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芯片推拉力測試機(jī)測試LED焊接強(qiáng)度的方法

閱讀:736        發(fā)布時間:2023-2-8
  芯片推拉力測試機(jī)作為新一代系統(tǒng),它實(shí)現(xiàn)了良好的準(zhǔn)確度和數(shù)據(jù)可重復(fù)性,可提供值得信賴的結(jié)果。廣泛應(yīng)用于5G光器件封裝、芯片鍵合線焊接、鍵合強(qiáng)度、粗鋁線、CCM器件封裝、元器件焊接研究所材料力學(xué)研究、材料可靠性測試等應(yīng)用領(lǐng)域,是SMT工藝、鍵合工藝等的動態(tài)力學(xué)檢測儀器,能滿足包含有:金屬、銅線、合金線、鋁線、鋁帶等拉力測試、金球、銅球、錫球、晶圓、芯片、貼片元件等推力測試、錫球等拉拔測試等等具體應(yīng)用需求,功能可擴(kuò)張性強(qiáng)、操控便捷、測試效率高,準(zhǔn)確??筛鶕?jù)要求定制底座、夾具、校驗(yàn)治具、砝碼和測試工具滿足各種不同尺寸的樣品。
 
  伴隨著LED芯片技術(shù)的發(fā)展,LED封裝技術(shù)也有了理論和工藝實(shí)踐上的創(chuàng)新與突破,正在從支架型封裝燈驅(qū)分離技術(shù)時代過渡到無支架型集成封裝燈驅(qū)合一技術(shù)時代。芯片推拉力測試機(jī)的研發(fā)就是為了在封裝焊接工藝完成后,對LED芯片進(jìn)行焊接強(qiáng)度測試,避免發(fā)生短路、短路、漏電等不良問題。那么,芯片推拉力測試機(jī)是如何測試LED焊接強(qiáng)度的呢?
 
  試驗(yàn)方法:
 
  在試驗(yàn)設(shè)備上安裝剪切工具和試驗(yàn)樣品。剪切工具正好在位于基板上的位置與芯片接觸,在垂直于芯片或基板的一邊界并平行于基板的方向上施加外力,使芯片可以被平行于器件表面的剪切工具剪切,如下圖所示。應(yīng)小心安放器件以免對芯片造成損傷。對于某些類型的封裝,由于封裝結(jié)構(gòu)會妨礙芯片的剪切力測試,當(dāng)規(guī)定要采用本試驗(yàn)方法時,需要采用有效的化學(xué)或物理方法將妨礙部分去除,但不得破壞芯片倒裝區(qū)和填充區(qū)。
 
  注意:剪切工具應(yīng)由堅(jiān)硬的剛性材料、陶瓷或其他非易彎曲的材料構(gòu)成。剪切工具應(yīng)和器件底面成90°±5°。把剪切工具和芯片對齊,使其可以接觸芯片的一側(cè)。應(yīng)保證剪切工具在行進(jìn)時不會接觸基板。使用可移動的試驗(yàn)臺和工具臺進(jìn)行對齊,并使移動平面垂直于負(fù)載方向。應(yīng)特別注意,在試驗(yàn)安裝中不應(yīng)碰觸到進(jìn)行試驗(yàn)的凸點(diǎn)。

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