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SE-VE-光譜橢偏儀
  • SE-VE-光譜橢偏儀
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貨物所在地:湖北武漢市

地: 武漢市東湖高新區(qū)華工科技園創(chuàng)智

更新時間:2025-04-20 21:00:08

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SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。

 一、產品特點

光學橢偏測量解決方案;

■ 緊湊集成化設計,良好的用戶操作體驗

■ 一鍵快速測量分析,人機交互設計,使用便捷;

■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結構模型庫,保證強大數(shù)據(jù)分析能力

■ 采用高性能進口復合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm);

微信截圖_20181015090855.png

■ 高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置,實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集;

捕獲.JPG

■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料;

庫.png

二、技術規(guī)格

 

三、應用范圍

廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。

 

 

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