SLP-2000-CG散亂光光彈性應(yīng)力測試儀

一、設(shè)備選擇要點(diǎn)

1. 技術(shù)參數(shù)匹配

• 測量范圍：應(yīng)力值 0-2000MPa，應(yīng)力層深度 10-600μm，適用于二強(qiáng)玻璃（如鋰鋁硅玻璃）、物理強(qiáng)化玻璃及復(fù)雜強(qiáng)化工藝的檢測。

• 精度與分辨率：從表面起 50μm 后應(yīng)力精度 ±10MPa，深度精度 ±10μm，分辨率分別為 5MPa 和 5μm，滿足行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn)需求。

• 光源特性：采用 520nm 激光光源（Class 3B），壽命長達(dá) 10000 小時，確保長期穩(wěn)定測量。

• 適用形狀：支持平面及曲率半徑≥1000R 的曲面玻璃，樣本尺寸需≥10×10mm。

2. 應(yīng)用場景適配

• 化學(xué)強(qiáng)化玻璃：針對離子交換（如 Li+→Na+）的二強(qiáng)玻璃，可獨(dú)立測量鈉離子層應(yīng)力分布，結(jié)合 FSM-6000 設(shè)備可分析 K + 與 Na + 復(fù)合強(qiáng)化層的完整應(yīng)力梯度。

• 微晶玻璃：通過優(yōu)化參數(shù)（如光彈系數(shù) 29.6nm/cm/MPa、折射率 1.57），可有效捕捉晶化后內(nèi)部應(yīng)力異常，避免傳統(tǒng)方法因晶相干擾導(dǎo)致的誤差。

• 生產(chǎn)質(zhì)控：支持連續(xù)測量并自動判斷合格 / 不合格，實(shí)時記錄數(shù)據(jù)（含樣本編號、時間、應(yīng)力值），滿足生產(chǎn)線快速檢測需求。

3. 硬件與軟件配置

• 光學(xué)系統(tǒng)：三棱鏡折射率 1.518@518nm，配合專用折射液（GS-1.499）確保光路穩(wěn)定，避免氣泡或雜質(zhì)干擾。

• 操作軟件：內(nèi)置 Windows 10 系統(tǒng)，支持 Er2rbf 等多種測量模式，可通過 USB 導(dǎo)出數(shù)據(jù)，兼容 PMC 軟件進(jìn)行復(fù)雜應(yīng)力分析。

• 校準(zhǔn)機(jī)制：需定期使用標(biāo)準(zhǔn)片（如應(yīng)力值已知的校準(zhǔn)片）校準(zhǔn)，誤差控制在 ±10% 以內(nèi)，校準(zhǔn)流程需嚴(yán)格按照手冊執(zhí)行。

4. 環(huán)境與維護(hù)要求

• 環(huán)境條件：溫度 18-28℃、濕度 45%-85% 且無結(jié)露，遠(yuǎn)離強(qiáng)光、電磁干擾及化學(xué)腐蝕源。

• 維護(hù)成本：需定期清潔光學(xué)部件（用無水乙醇擦拭棱鏡），避免灰塵堆積；建議每季度校準(zhǔn)一次，每年由廠商進(jìn)行深度維護(hù)。

• 質(zhì)量判定：預(yù)設(shè)合格區(qū)間（如表面應(yīng)力≥600MPa，深度≥30μm），系統(tǒng)自動標(biāo)記異常樣本并生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告。