Sensofar三維共聚焦白光干涉儀

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款集成了共聚焦、白光干涉和多焦面疊加技術的高精度光學輪廓測量設備，廣泛應用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領域。該設備采用非接觸式測量方式，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級表面形貌的高精度測量。

在性能方面，Sensofar設備具備高分辨率和高穩(wěn)定性，支持多種測量模式，如共聚焦、白光干涉和多焦面疊加，適用于不同表面特性樣品的測量。設備支持多種樣品臺和自動聚焦功能，便于靈活調(diào)整測量參數(shù)。

Sensofar設備的光學系統(tǒng)采用高線性電容傳感器和閉環(huán)反饋壓電陶瓷，確保測量的穩(wěn)定性和重復性。設備支持多種物鏡選擇，適用于不同放大倍率和工作距離的需求。

Sensofar設備廣泛應用于半導體、精密光學、材料科學、生物醫(yī)學和工業(yè)制造等領域，適用于表面粗糙度、臨界尺寸和三維形貌的測量。設備操作簡便，支持多種軟件分析工具，便于用戶快速完成測量和分析。

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款高性能、高精度的光學測量設備，適用于多種復雜表面的高精度測量需求。Sensofar三維共聚焦白光干涉儀