目錄:北京儀光科技有限公司>>三維光學(xué)輪廓儀>>Sensofar>> 多技術(shù)融合:S neox應(yīng)對復(fù)雜測量挑戰(zhàn)?
| 參考價 | ¥1300000-¥2000000 | /臺 |
參考價:¥1300000 ~ ¥2000000
更新時間:2025-10-21 21:43:45瀏覽次數(shù):107評價
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
|---|
面對日益復(fù)雜的樣品和更高的檢測要求,單一測量技術(shù)有時會顯得力不從心。Sensofar S neox的多技術(shù)融合特性,使其能夠從容應(yīng)對各種復(fù)雜的表面測量挑戰(zhàn),為用戶提供一個更全面、更可靠的工具。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀
產(chǎn)品細節(jié)與性能
S neox的“多技術(shù)融合"并非簡單拼湊,而是深層次整合。其智能系統(tǒng)能根據(jù)預(yù)設(shè)的程序,在同一視場內(nèi)自動切換不同的測量技術(shù)。例如,可以先使用共聚焦模式快速掃描整個區(qū)域并識別出具有不同特征的子區(qū)域,然后針對光滑區(qū)域自動切換到干涉模式進行納米級精度的測量。
這種智能的工作流程不僅保證了每個特征都能用最合適的技術(shù)進行測量,還避免了人為切換帶來的誤差和時間消耗。True Color技術(shù)還能在測量形貌的同時,捕獲真實的表面顏色信息,為分析提供更多維度的參考。
用途深入解析
在MEMS器件測量中,既有高深寬比的結(jié)構(gòu)(適合共聚焦),又有光滑的反射面(適合干涉),S neox可一次測量全面表征。在透明薄膜測量中,共聚焦模式可以過濾掉底層反射的干擾,準(zhǔn)確測量薄膜表面形貌。在混合材料樣品上,不同材質(zhì)的反射率差異巨大,多技術(shù)選擇確保了測量的成功率。
使用說明
用戶可以在SensoMAP軟件中輕松設(shè)置測量序列(Recipe),將不同技術(shù)的測量步驟、物鏡選擇、參數(shù)設(shè)置等保存下來。日后遇到同類樣品,只需調(diào)用該Recipe,即可實現(xiàn)一鍵式全自動測量,極大降低了對操作人員的技術(shù)要求,保證了測量結(jié)果的一致性和可重復(fù)性。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)