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目錄:北京儀光科技有限公司>>激光干涉儀>>ZYGO光學輪廓儀>> ZeGage ProZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案

ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案

  • ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案
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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 ZYGO/翟科
  • 型號 ZeGage Pro
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2025-10-23 19:32:11瀏覽次數(shù):62評價

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應用領域 化工,能源,建材/家具,汽車及零部件,綜合
ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案
通過針對性適配方案,ZeGage Pro 可突破柔性、磁性、透明脆性樣品的測量限制,滿足更多非常規(guī)場景的 3D 形貌測量需求。

ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案

一、柔性薄膜樣品測量適配
(一)樣品特性與測量難點
柔性薄膜(如塑料薄膜、金屬箔片,厚度 5-50μm)易變形、褶皺,常規(guī)夾持易導致樣品拉伸,影響表面粗糙度、厚度測量精度;且部分薄膜透光性強,成像對比度低,難以捕捉表面細節(jié)。
(二)適配方案與操作
  1. 固定方式:選用真空吸附樣品臺(選配,型號 ZGP-ST01),吸附壓力設為 0.03-0.05MPa(根據(jù)薄膜厚度調(diào)整,薄膜用低壓力),使薄膜平整貼合臺面,避免褶皺;

  1. 光學調(diào)整:若薄膜透明,開啟軟件 “偏振光 + 增強對比度" 功能,調(diào)整光源亮度至 80%(常規(guī) 50%),提升表面紋理成像清晰度;

  1. 參數(shù)設置:選 20X 物鏡(平衡范圍與精度),掃描范圍 1mm×1mm,數(shù)據(jù)點密度 800 點 /mm2,掃描速度調(diào)慢至 0.5 秒 / 幀(減少氣流對薄膜的擾動)。

(三)應用案例
測量 PET 薄膜表面粗糙度(要求 Ra≤0.05μm):吸附固定后掃描,軟件清晰捕捉薄膜表面微小凸起,計算 Ra=0.042μm,符合要求;若未用真空吸附,薄膜褶皺導致 Ra 測量值偏差達 0.02μm。
二、磁性零件樣品測量適配
(一)樣品特性與測量難點
磁性零件(如永磁體、電磁鐵芯)表面磁場易干擾光學系統(tǒng)中的金屬部件(如物鏡支架),導致光路偏移,影響測量精度;且零件表面可能殘留鐵屑,干擾成像。
(二)適配方案與操作
  1. 磁場屏蔽:在樣品臺與設備主體間加裝坡莫合金屏蔽板(厚度 2mm,型號 ZGP-SH01),削弱磁場對光學系統(tǒng)的影響;

  1. 樣品清潔:測量前用無磁毛刷清掃零件表面鐵屑,再用無水乙醇擦拭,避免雜質(zhì)附著;

  1. 參數(shù)校準:更換磁性樣品后,用標準臺階樣板(非磁性材質(zhì),已知高度 0.5mm)重新校準,確保垂直測量誤≤0.01μm;

  1. 硬件選擇:選 5X 或 10X 物鏡(低倍物鏡金屬部件少,受磁場影響?。?,避免用 50X 高倍物鏡(精密部件多,易受干擾)。

(三)應用案例
測量電磁鐵芯臺階高度(設計值 0.8mm):經(jīng)屏蔽與校準后,實測值 0.802mm,偏差 0.002mm;未屏蔽時,磁場導致偏差達 0.01mm,超出合格范圍。
三、透明脆性樣品測量適配
(一)樣品特性與測量難點
透明脆性樣品(如玻璃鏡片、陶瓷薄片)易因夾持力過大碎裂,且透明材質(zhì)易產(chǎn)生光反射,導致干涉信號紊亂,影響厚度、平整度測量。
(二)適配方案與操作
  1. 夾持方式:用硅膠材質(zhì)柔性夾具(硬度 50 Shore A),夾持力控制在 5-10N(通過夾具調(diào)節(jié)螺絲微調(diào)),避免樣品受力碎裂;

  1. 光學優(yōu)化:在樣品底部墊黑色吸光襯墊(厚度 1mm,型號 ZGP-LN01),減少底面反射光干擾;軟件選擇 “透明樣品專用算法",增強層間信號識別;

  1. 參數(shù)設置:選 50X 物鏡(測厚度)或 10X 物鏡(測平整度),掃描范圍 0.5-2mm×0.5-2mm,數(shù)據(jù)點密度 1000 點 /mm2,確保捕捉層間細節(jié)。

(三)應用案例
測量石英玻璃薄片厚度(設計值 0.3mm):墊吸光襯墊后,軟件清晰識別玻璃上下表面,實測值 0.301mm,偏差 0.001mm;未墊襯墊時,反射光干擾導致厚度測量偏差達 0.005mm。
四、適配通用注意事項
  1. 樣品預處理:無論何種特殊樣品,均需清潔表面(無油污、雜質(zhì)),避免影響成像與數(shù)據(jù);

  1. 分步測試:首測量特殊樣品時,先小范圍掃描(如 0.2mm×0.2mm),驗證參數(shù)與適配方案是否可行,再擴大掃描范圍;

  1. 數(shù)據(jù)對比:對同一特殊樣品重復測量 3 次,若數(shù)據(jù)偏≤0.01μm,說明適配方案穩(wěn)定,可批量測量。

通過針對性適配方案,ZeGage Pro 可突破柔性、磁性、透明脆性樣品的測量限制,滿足更多非常規(guī)場景的 3D 形貌測量需求。


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