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15J-測量顯微鏡
  • 15J-測量顯微鏡
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-06-13 10:01:12

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測量顯微鏡利用直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。

15J測量顯微鏡

本儀器利用直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。轉(zhuǎn)動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。

測量顯微鏡

物鏡

倍率

數(shù)值孔徑

工作距離

物方視場

2.5X

0.08

58.84mm

5.6mm

10X

0.16

7.81mm

1.44mm

目鏡

倍率

焦 距

視場直徑

10X

25.0

           18.0mm 

測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格

X--軸移動測量范圍

50mm

Y--軸移動測量范圍

13mm

測量臺轉(zhuǎn)動范圍

不限

度盤的主要規(guī)格

測微器分度值

0.01mm

測量臺刻度盤游標讀數(shù)示值

6

測量精度

儀器示值誤差

5+L/15μm

儀器示值誤差

包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差

注:測量地點溫度變化(20°±3°
L-被測件長度(mm

主要尺寸

測量臺與物鏡間之大距離

80mm

測量工作臺直徑

 

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