布魯克 Bruker PI 89 掃描電鏡納米壓痕儀 返回列表頁

 The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術，繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學性能成像等功能。

控制和性能

Hysitron PI 89的緊湊設計允許的樣品臺傾斜，以及測試時成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：

• 重新設計的結構增加適用性和易用性 
• 1 nm精度的線性編碼器實現(xiàn)更大范圍下更好的自動測試定位重復性
• 更高的框架剛度(~0.9 x 106 N/m)提供測試過程更好的穩(wěn)定性
• 兩種旋轉/傾斜模式實現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測器的聯(lián)用，包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。