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菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀

時間:2025/5/28閱讀:97
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菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀

核心功能與技術(shù)優(yōu)勢

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高精密能量色散型 X 射線熒光(EDXRF)檢測設(shè)備,專為鍍層厚度測量、材料成分分析及溶液分析設(shè)計,支持無損檢測,廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。其核心技術(shù)亮點包括:


  • 測量原理:基于 X 射線熒光光譜法,結(jié)合自動聚焦功能,確保樣品完整性與測量精度,無需破壞被測物。

  • 元素與鍍層兼容性:可檢測Cl(17)至 U(92)全系列元素,支持最多24 種元素、23 層鍍層的同步分析,覆蓋復(fù)雜多層鍍層結(jié)構(gòu)。

  • 硬件性能升級

    • 手動 X/Y 平臺:移動范圍≥95×150mm,工作臺面≥420×450mm,滿足多樣品批量放置與快速切換。

    • 電動 Z 軸:支持手動 / 自動聚焦,行程≥140mm,適配不同高度(最高 140mm)的復(fù)雜形狀樣品。

    • DCM 技術(shù)(測量距離補償法):支持0-80mm 深度腔體樣品的遠(yuǎn)距離對焦測量,突破傳統(tǒng)接觸式檢測的空間限制。

    • 可變高壓調(diào)節(jié):提供 30kV、40kV、50kV 三檔選擇,靈活匹配不同材質(zhì)與鍍層厚度的檢測需求。

    • 高精度準(zhǔn)直器:標(biāo)配 φ0.3mm 圓形準(zhǔn)直器,可選 φ0.1mm、φ0.2mm 及 0.3mm×0.05mm 長方形準(zhǔn)直器,滿足微米級區(qū)域的精準(zhǔn)測量。

    • 信號采集系統(tǒng):采用比例接收器實現(xiàn)高計數(shù)率,搭配高分辨率 CCD 攝像頭(40-160 倍放大),支持激光定位與 LED 照明,實時監(jiān)控測量點并快速校準(zhǔn)。


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