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愛拓ATAGO PAL-HIKARi 水果成熟度檢測(cè)儀
發(fā)布時(shí)間:2024-07-18 播放次數(shù)85次
視頻簡(jiǎn)介

PAL-HIKARi 水果成熟度檢測(cè)儀是由日本愛拓(ATAGO)公司研發(fā)的一款用于無(wú)損測(cè)量水果成熟度的設(shè)備。


產(chǎn)品特點(diǎn)

  1. 無(wú)損檢測(cè):無(wú)需采摘果實(shí)、破壞果皮、切取果肉或榨汁取樣,即可測(cè)量水果的成熟度。

  2. 光照射測(cè)量原理:采用光照射到水果所吸收的光量,轉(zhuǎn)換成水果的成熟度顯示(0~100%)。

  3. NFC傳輸功能:測(cè)量記錄(可達(dá)100條)可通過(guò)NFC功能傳輸至手機(jī)或電腦,方便讀取數(shù)據(jù)助力分析。

  4. 貼合水果表面設(shè)計(jì):可與水果表面直接接觸,不受水果形狀影響,減少因外界光線透入或測(cè)量方位等因素干擾而造成的測(cè)量誤差。

  5. 自動(dòng)溫度補(bǔ)償:具備自動(dòng)溫度補(bǔ)償功能,確保在不同溫度下的測(cè)量準(zhǔn)確性。




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