半導體封裝是確保芯片性能與可靠性的重要環(huán)節(jié)。封裝工藝涉及塑封、引腳焊接、老化測試等多個工序，每個工序對溫度與熱流控制的要求嚴格。無錫冠亞熱流儀通過熱流控制，為封裝工藝提供了解決方案。
一、熱流儀應用場景
塑封工藝
塑封過程中，模具溫度直接影響封裝材料的流動性與固化效果。溫度過高會導致材料流動性過強，造成溢膠；溫度過低則可能導致固化不完。無錫冠亞熱流儀通過±0.2℃的控溫精度，確保模具溫度恒定，從而提升封裝質量，減少氣泡與空洞缺陷。
引腳焊接
焊接過程中，溫度過高可能導致焊點虛焊；溫度過低則可能導致焊接不牢固。無錫冠亞熱流儀通過快速升溫與降溫，確保焊接溫度準確控制，提升焊接效率與可靠性。
老化測試
老化測試是評估芯片長期可靠性的重要環(huán)節(jié)。無錫冠亞熱流儀模擬芯片在溫度下的工作環(huán)境，通過控溫，確保測試數據的準確性。
二、熱流儀技術特點
寬溫域覆蓋
溫度范圍-40℃~200℃，滿足不同封裝工藝的需求。其內置的多級制冷系統可在嚴苛溫度下保持穩(wěn)定運行，確保測試數據的可靠性。
快速響應
升降溫速率達5℃/min，提高生產效率。例如，在某BGA封裝工藝中，熱流儀將升溫時間從15分鐘縮短至3分鐘，生產效率提升20%。
無錫冠亞熱流儀以其熱流控制，為半導體封裝工藝提供了可靠支持。未來，我們將持續(xù)創(chuàng)新，為行業(yè)提供解決方案。
