卡爾蔡司ZEISS新品發(fā)布sigma360 FESEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

卡爾蔡司ZEISS新品發(fā)布sigma360  FESEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

卡爾蔡司ZEISS新品發(fā)布sigma360  FESEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

2025年5月22日近期我司推出了卡爾蔡司ZEISS新品發(fā)布sigma360  FESEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 ZEISS Sigma 系列將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術(shù)與 的用戶體驗(yàn)相結(jié)合。結(jié)構(gòu)化成像和分析程序可提高生產(chǎn)率，并可用于研究新材料、質(zhì)量控制的顆粒樣本、生物和地質(zhì)樣本等。即使在低于 1 kV 的低加速電壓下，不妥協(xié)的高分辨率成像也能實(shí)現(xiàn)高分辨率和對(duì)比度。此外，您可以使用 的 EDS 幾何結(jié)構(gòu)執(zhí)行高級(jí)顯微鏡分析，以兩倍的速度獲得更準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品蔡司適馬實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量成像和高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射SEM

ZEISS Sigma 系列將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術(shù)與 的用戶體驗(yàn)相結(jié)合。結(jié)構(gòu)化成像和分析程序可提高生產(chǎn)率，并可用于研究新材料、質(zhì)量控制的顆粒樣本、生物和地質(zhì)樣本等。即使在低于 1 kV 的低加速電壓下，不妥協(xié)的高分辨率成像也能實(shí)現(xiàn)高分辨率和對(duì)比度。此外，您可以使用 的 EDS 幾何結(jié)構(gòu)執(zhí)行高級(jí)顯微鏡分析，以兩倍的速度獲得更準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

Sigma 系列為先進(jìn)的納米分析打開了大門。

Sigma 360 因其直觀的成像和分析能力而成為核心成像設(shè)施的 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM)。

Sigma 560 提供 的 EDS 幾何結(jié)構(gòu)，可用于高通量分析，并可實(shí)現(xiàn)原位實(shí)驗(yàn)的自動(dòng)化。

特征技術(shù)應(yīng)用配件下載

詢問

Sigma 360

核心設(shè)施選擇的直觀成像

體驗(yàn)直觀的成像工作流程，從設(shè)置到 AI 驅(qū)動(dòng)的結(jié)果都有專門的指導(dǎo)操作。

即使在 1 kV 以下也能實(shí)現(xiàn)出色的分辨率和最佳對(duì)比度

即使在 挑戰(zhàn)性的非導(dǎo)電材料條件下，VP 成像也能獲得出色的結(jié)果

圖片說(shuō)明：在 NanoVP Lite 模式下對(duì)聚苯乙烯進(jìn)行成像。

Sigma 560

原位實(shí)驗(yàn)的高通量分析和自動(dòng)化

有效分析真實(shí)世界的樣本。實(shí)現(xiàn)快速且多功能的基于 SEM 的分析。

自動(dòng)化現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)：實(shí)現(xiàn) 集成的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行無(wú)人值守測(cè)試。

支持 1 kV 以下難以成像的樣本。可以收集全面的樣本信息。

技術(shù)

帶有光束增強(qiáng)器、Inlens 探測(cè)器和 Gemini 物鏡的 Gemini 光學(xué)柱的橫截面。

雙子座1號(hào)光學(xué)系統(tǒng)

Gemini 1 光學(xué)系統(tǒng)由三個(gè)元素組成：物鏡、光束增強(qiáng)器和 Inlens 檢測(cè)概念。物鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電場(chǎng)和磁場(chǎng)，以最大限度地提高光學(xué)性能，同時(shí)最大限度地減少磁場(chǎng)對(duì)樣品的影響。即使對(duì)于磁性材料等具有挑戰(zhàn)性的樣品，也可以實(shí)現(xiàn)出色的成像。 Inlens 的概念是檢測(cè)二次電子 (SE) 和背散射電子 (BSE)，以實(shí)現(xiàn)高效的信號(hào)檢測(cè)，同時(shí)最大限度地延長(zhǎng)成像時(shí)間。光束增強(qiáng)技術(shù)確保探頭尺寸小且信噪比高。