SHIMADZU 島津新品發(fā)布SPM-9700HT Plus掃描探針顯微鏡

SHIMADZU 島津新品發(fā)布SPM-9700HT Plus掃描探針顯微鏡

SHIMADZU 島津新品發(fā)布SPM-9700HT Plus掃描探針顯微鏡

2025年5月27日近期我司推出了  新品發(fā)布SHIMADZU 島津新品發(fā)布SPM-9700HT Plus掃描探針顯微鏡  快速納米 3D 映射（可選）與上一代型號（SPM-9700）相比，物理性質(zhì)映射所需的時間已大幅減少。更短的映射時間可以實現(xiàn)物理特性的穩(wěn)定評估。優(yōu)化觀察條件 NanoAssist 您只需設(shè)置觀察范圍。其他觀察條件設(shè)置自動設(shè)置。實現(xiàn)無需操作員的觀察。

高通量掃描儀可縮短觀察時間

新開發(fā)的 HT 掃描儀可以比之前的型號（SPM-9700）快五倍以上的速度觀察表面形狀。

掃描儀可以輕松更換，讓您使用舊的掃描儀。HT掃描儀

 *視頻中的產(chǎn)品名稱和外觀可能與實際產(chǎn)品有所不同，但操作步驟與SPM-9700HT Plus相同。

頭部滑動機構(gòu) - 高穩(wěn)定性和高吞吐量 -

該頭部結(jié)合了光學(xué)杠桿系統(tǒng)和懸臂，只需滑動即可更換樣品。更換過程可以在不中斷激光發(fā)射的情況下進行，因此即使更換后激光發(fā)射仍能保持高度穩(wěn)定。由于不需要中斷激光照射（例如調(diào)整光軸），因此分析時間也減少了。

高穩(wěn)定性

- 即使在更換樣品時，激光也能穩(wěn)定地照射到懸臂上。

- 它能抵抗振動、噪音和風(fēng)的干擾，因此不需要專用的擋風(fēng)玻璃。

- 主機內(nèi)置有隔振功能。高吞吐量

- 無需拆除懸臂支架即可更換樣品。

- 即使在 SPM 觀察期間您也可以訪問樣本。

- 無論樣品厚度如何，該方法都是全自動的。

*視頻中的產(chǎn)品名稱和外觀可能與實際產(chǎn)品有所不同，但操作步驟與SPM-9700HT Plus相同。 

SPM-9700HT Plus高穩(wěn)定性的秘密

維持高性能的優(yōu)良機制 ～因激光照射差異而產(chǎn)生的穩(wěn)定性比較～

SPM-9700HT Plus 

不支持的設(shè)備（示例） 

懸臂主控器（懸臂安裝夾具，可選）

只需沿著滑道移動懸臂即可確保安全安裝。 

①將懸臂支架安裝到懸臂安裝夾具上。

②將懸臂放置在滑道上。

③ 將懸臂滑入懸臂支架并固定到位。

*視頻中的產(chǎn)品名稱和外觀可能與實際產(chǎn)品有所不同，但操作步驟與SPM-9700HT Plus相同。 

使用鼠標(biāo)操作的各種 3D 表現(xiàn)

您可以通過鼠標(biāo)自由旋轉(zhuǎn)、縮放和改變Z軸放大倍數(shù)，讓您直觀地調(diào)整想要查看的圖像的角度和放大倍數(shù)。通過疊加其他物性信息來顯示高度信息的紋理功能、3D截面形狀分析功能等高級分析，大幅提高了圖像審查工作的效率。   

飛漲

旋轉(zhuǎn)

Z軸放大倍數(shù)變化

紋理特征

可以通過疊加其他物理屬性信息來顯示高度信息?？梢郧逦谋磉_出兩者之間的關(guān)系。

3D橫截面形狀分析

可以在 3D 顯示器上進行橫截面形狀分析。當(dāng)物理特性信息以紋理形式表達時，每個橫截面輪廓都可以在同一個地方顯示和分析。

滿足您所有需求的功能和可擴展性

多種測量模式不僅可以獲得樣品形貌的圖像，還可以獲得反映樣品表面物理特性的圖像，例如電流、電位、硬度和粘彈性。

標(biāo)準(zhǔn)功能

通過接觸懸臂來觀察樣品表面形狀的模式 。

通過振動動態(tài)懸臂

來觀察樣品表面形狀的模式。

通過擴展相動態(tài)模式

觀察樣品表面特性的模式

水平力（LFM）

檢測作用于懸臂的水平力（摩擦力）的模式。

標(biāo)準(zhǔn)功能

可選功能

擴展力調(diào)制

接觸模式來觀察樣品的表面特性。

力曲線（力映射為可選）

繪制作用于懸臂的力的函數(shù)

電流模式用于觀察樣品和懸臂

之間的電流分布

表面電位（KPFM）

觀察樣品表面電位分布的模式

可選功能

磁力顯微鏡 (MFM)

模式用于觀察樣品表面的漏磁場

矢量掃描（定制）：

在樣品表面任意移動懸臂的功能

溶液中觀察：

使用培養(yǎng)皿型溶液池觀察溶液中的樣品表面

電化學(xué)反應(yīng)過程中的觀察

使用電化學(xué)溶液池觀察反應(yīng)過程中的樣品表面

納米三維映射

觀察樣品的彈性模量和粘附力的分布

樣品加熱裝置

：安裝在掃描儀上，樣品可以放置在裝置上并加熱。

光照射單元：

可使用光纖將光照射到樣品表面（不包括光源和光纖）

接觸式原子力顯微鏡

在此模式下，掃描樣品表面的同時施加反饋，以保持懸臂和樣品之間的排斥力恒定。這是 AFM 中最常見的模式，可提供最高的分辨率。

云母的原子圖像（使用桌上型空氣彈簧隔振臺）

動態(tài)模式AFM

懸臂在其共振頻率附近振動。在這種狀態(tài)下，當(dāng)懸臂 接近樣品時，振幅會發(fā)生變化。該模式利用此現(xiàn)象使傳感器動作，使振幅恒定，從而獲取樣品在高度方向的位移。

藍寶石中的原子臺階

質(zhì)粒DNA

階段

在動態(tài)模式下掃描時，檢測懸臂的相位滯后。樣品表面特性的差異可以被直觀地看到。

聚合物片材表面形貌圖像（左）/相位圖像（右）

水平力（LFM）

在垂直于懸臂長度方向進行掃描的同時，檢測并成像由于水平力（摩擦力）引起的懸臂扭轉(zhuǎn)量。

鉑金涂層表面形貌圖像（左）/ LFM 圖像（右）

力調(diào)制

在接觸模式下掃描時， 被反復(fù)推入樣品，并通過將響應(yīng)分離為幅度和相位來檢測響應(yīng)?？梢灾庇^地看到樣品表面物理特性的差異。

不銹鋼表面形貌圖像（左）/振幅圖像（右）

力曲線（標(biāo)準(zhǔn)）

納米 3D 映射（可選）

在改變探針和樣品之間的距離的同時測量作用在探針上的力，并將測得的力顯示為圖表。

可選的 Nano 3D Mapp