HITACHI日立紫外分光光度計易操作UH5200不僅配有高分辨率彩色LCD大屏和便捷小鍵盤，還可以通過USB接口輕松連接外部設備（讀卡器、鍵盤），實現(xiàn)樣品信息...

HITACHI日立分光光度計易操作U-3900/3900H分光光度計采用Seya-Namioka單色儀，安裝了像差校正凹面光柵。同時擁有光束的聚焦和色散功能，光...

HITACHI日立紫外分光光度計易使用UH5700采用連續(xù)可變狹縫，在近紅外波長區(qū)測定低光量時，自動加寬狹縫；測定高光量時，自動減小狹縫寬度。支持低噪音測定超大...

HITACHI日立雙光束穩(wěn)定光學光度計易使用U-3900/3900H分光光度計采用Seya-Namioka單色儀，安裝了像差校正凹面光柵。同時擁有光束的聚焦和色...

HITACHI日立熒光分光光度計易維護F-2700熒光分光光度計在設計上充分考慮了用戶的操作體驗。操作鍵盤設計簡潔直觀，類似于手機按鍵，用戶無需專業(yè)培訓即可快速...

HITACHI日立熒光分光光度計靈敏度高F-7100是在前代機型F-7000的基礎上更新升級，基本性能得到了進一步提升。靈敏度（S/N）是選擇熒光分光光度計的重...

HITACHI日立分光光度計易操作采用優(yōu)良的技術和優(yōu)質(zhì)的材料制造而成，F(xiàn)-2700在長時間運行過程中能夠保持穩(wěn)定的性能表現(xiàn)，減少了因儀器故障而導致的實驗中斷。

HITACHI日立分光光度計易使用F-7000能夠處理濃度范圍高達6個數(shù)量級的數(shù)據(jù)，生成校正曲線，無需對未知樣品進行任何預處理即可進行定量。此外，增強的時間掃描...

HITACHI日立熒光分光光度計易使用F-7100采用全新氙燈，并改良了燈電源，使得光源亮度提升，并有效延長了氙燈的使用壽命。延長燈泡更換周期可降低耗材成本，減...

Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統(tǒng)?？梢运查g進行分光光譜的測量,也可以通過自由組合的光學系和豐富的配件，搭建...

YAMADA山田光學晶圓審核標準光源箱YP-250I半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半...

YAMADA山田光學 晶圓實驗設備燈管YP-150I半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半...

YAMADA山田光學 晶圓實驗設備燈管YP-250I 半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著...

YAMADA山田光學 晶圓實驗設備燈管半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導體工藝節(jié)點不...

YAMADA山田光學半導體標準光源箱HPS-150半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導...

YAMADA山田光學半導體標準光源箱半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導體工藝節(jié)點不斷...

YAMADA山田光學半導體標準光源箱 半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導體工藝節(jié)點不...

YAMADA山田光學晶圓劃痕檢測燈HPS-150 半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導...

YAMADA山田光學晶圓劃痕檢測燈YP-250I 半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導...

YAMADA山田光學晶圓劃痕檢測燈YP-150I 半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導...