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　　臺(tái)式薄膜厚度自動(dòng)測(cè)量?jī)x是一種用于精確測(cè)量薄膜、紙張、箔片、硅片等多種材料厚度的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，以下從技術(shù)特征、適用范圍、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)、操作功能等方面展開(kāi)介紹：

　　一、技術(shù)特征

　　接觸式測(cè)量：臺(tái)式薄膜厚度自動(dòng)測(cè)量?jī)x采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面以一定壓力落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。這種測(cè)量方式嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。

　　測(cè)量頭自動(dòng)升降：測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

　　支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式：方便用戶(hù)根據(jù)實(shí)際需求自由選擇。

　　數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示與分析：可實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷。

　　配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定：保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性。

　　支持多種實(shí)用功能：系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。

　　微電腦控制與人性化界面：系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶(hù)進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。

　　數(shù)據(jù)傳輸與共享：具備標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸;支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告。

　　二、適用范圍

　　適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。在塑料、橡膠、紙張、紡織品、金屬箔片(如鋁箔、銅箔、錫箔等)以及半導(dǎo)體材料等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。

　　三、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

　　臺(tái)式薄膜厚度自動(dòng)測(cè)量?jī)x執(zhí)行多項(xiàng)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)，如ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。