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表面粗糙度作為評(píng)定零件表面質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo)，必須進(jìn)行嚴(yán)格的檢測和控制。長期以來，零件表面粗糙度-直采用光切法、 干涉法和觸針法測量，因而只能在計(jì)量室里測量。采用光學(xué)式非接觸法測量表面粗糙度，不會(huì)劃傷工件表面，對(duì)精密加工中的機(jī)械零件，可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)，在線，動(dòng)態(tài)檢測和控制，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量和竟?fàn)幠芰Α?/span>
非接觸表面粗糙度儀測量表面粗糙度是通過不影響待測表面形貌間接反映待測表面信息的方法。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是測量裝置檢測到與待測表面直接接觸的部分保護(hù)測量裝置，同時(shí)避免直接接觸測量裝置引入的測量誤差。
非接觸表面粗糙度儀工作流程如下：
測量工件表面粗糙度時(shí)，將傳感器放在工件被測表面上，由儀器內(nèi)部的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)傳感器沿被測表面做等速滑行，傳感器通過內(nèi)置的觸針感受被測表面的粗糙度，此時(shí)工件被測表面的粗糙度引起觸針產(chǎn)生縱向位移，該位移使傳感器電感線圈的電感量發(fā)生變化，從而在相敏整流器的輸出端產(chǎn)生與被測表面粗糙度成比例的模擬信號(hào)，該信號(hào)經(jīng)過放大及電平轉(zhuǎn)換之后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，ARM芯片將采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字濾波和參數(shù)計(jì)算，測量結(jié)果在液晶顯示器上讀出，也可在打印機(jī)上輸出，還可以與PC機(jī)進(jìn)行通訊。
該設(shè)備可以用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度/粗糙度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。
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