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薄膜柔性測試與耐彎折試驗技術(shù)解析
來源:深圳市普云電子有限公司
2025年02月28日 13:30
一、核心定義與測試目的?
?1. 薄膜柔性測試(Flexibility Test)?
?2. 耐彎折試驗(Bending Fatigue Test)?
- ?定義?:模擬材料在?高周次反復(fù)彎折?
下的耐久性,檢測疲勞裂紋萌生與擴展行為。
- ?測試目標(biāo)?
:
?二、測試方法與設(shè)備對比?
?1. 薄膜柔性測試方法?
?測試類型? | ?設(shè)備? | ?核心參數(shù)? | ?適用標(biāo)準(zhǔn)? |
---|
?三點彎曲試驗? | 萬能材料試驗機 | 跨距L=10~50mm,速率1~10mm/min | ASTM D790、ISO 178 |
?拉伸-彎曲耦合? | 多軸動態(tài)試驗機 | 彎曲半徑R=材料厚度的1~5倍 | GB/T 1040.3 |
?卷繞測試? | 卷繞試驗儀 | 卷繞角度180°,張力0.1~10N | IEC 60454-3(絕緣膜) |
?

2. 耐彎折試驗方法?
?測試類型? | ?設(shè)備? | ?核心參數(shù)? | ?適用標(biāo)準(zhǔn)? |
---|
?往復(fù)彎折試驗? | 伺服驅(qū)動彎折試驗機 | 頻率1~10Hz,彎折角度±180° | ASTM D2176、IEC 62133 |
?MIT耐折度測試? | MIT耐折試驗機 | 載荷0.5~5N,彎折角度135° | TAPPI T423 |
?多環(huán)境耦合試驗? | 高低溫彎折試驗箱(集成溫濕度) | 溫度-70℃~+150℃,濕度10%~98%RH | GB/T 2423.22 |
?
三、關(guān)鍵性能指標(biāo)與數(shù)據(jù)分析?
?1. 薄膜柔性測試核心數(shù)據(jù)?
?2. 耐彎折試驗核心數(shù)據(jù)?
- ?疲勞壽命(S-N曲線)?
:彎折次數(shù)與應(yīng)力幅值的關(guān)系,用于預(yù)測材料壽命。
- ?裂紋擴展速率(da/dN)?
:結(jié)合金相顯微鏡或DIC技術(shù)量化裂紋增長。
?功能衰減?:如導(dǎo)電膜電阻變化率、光學(xué)膜霧度增加值。

?四、典型行業(yè)應(yīng)用?
?1. 消費電子(折疊屏)?
?2. 新能源(鋰電池封裝)?
?3. 醫(yī)療(可穿戴設(shè)備)?
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