使用Agilent 5110 VDV ICP-OES 對空氣 過濾器進行多元素分析

監(jiān)測工作場所空氣質量的常規(guī)方法已經開發(fā)出測定空氣樣品中金屬和類金屬污染物的標準方法。本研究采用 ICP-OES對通過微波消解制備的過濾介質中的 44 種元素進行定量分析。這些元素是標準方法HJ 777-2015、ISO 15202 和 ASTM D7035-16 中列出的元素。Agilent 5110 VDV ICP-OES 配備 AVS 7 切換閥和 SPS 4 自動進樣器。樣品間分析時間為 63 秒，且每個樣品僅消耗 21 L 氬氣。為實現(xiàn)更低的檢測限，對所有元素均使用軸向等離子體觀測。使用軸向觀測可能會導致需要校正復雜的背景結構。

自動化干擾校正將自動化擬合背景校正 (FBC) 和快速自動曲線擬合技術 (FACT) 建模技術結合使用來校正復雜的背景結構（圖 1）。FBC 能夠準確校正簡單及復雜的背景結構，且無需進行方法開發(fā)。FACT 可校正等離子體中的光譜干擾并對復雜的背景結構建模。

標準物質分析方法 DL（表 1）均明顯低于 HJ 777-2015、ISO 15202 和 ASTMD7035-16 中規(guī)定的 MDL。CRM QC-TMFM-D 和 QC-TMFM-G均購自美國 High Purity Standards。表 1 顯示這些 CRM 的結果都在預期回收率的 ±10% 以內。向樣品中加標低濃度的各種元素，以確定回收率。如表 1 所示，這些回收率均在預期值的±10% 以內。

長期穩(wěn)定性為證明 5110 ICP-OES 在長時間運行中的穩(wěn)定性和精密度，在 6 小時內分析大約 350 份溶液（圖 2）。每 10 個樣品后測量一次 QC 溶液。所有元素的結果顯示：- 回收率在 ±10% 以內- RSD 小于 2.1%（Te 除外，其 RSD 為 4%）

結論使用配備 AVS 7 切換閥的 Agilent 5110 VDV ICP-OES 能夠對過濾介質中的金屬進行準確的常規(guī)測量。AVS 7 和 VistaChip II 可提高分析效率，并在長時間運行中保持優(yōu)異的穩(wěn)定性，同時大幅減少氬氣消耗量和樣品間分析時間。自動化校正技術 FBC 和 FACT，可簡化方法開發(fā)并準確校正背景和光譜干擾。