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菲希爾X-ray系列測(cè)厚儀信息

來(lái)源:無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司   2025年07月25日 09:47  
德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM 系列 X 射線熒光鍍層測(cè)厚與材料分析儀,是一款通用性強(qiáng)的能量色散 X 射線光譜儀。該系列作為成熟的 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 模型系列的升級(jí)產(chǎn)品,延續(xù)了前代設(shè)備的核心優(yōu)勢(shì),尤其適用于無(wú)損厚度測(cè)量、薄涂層分析,以及批量生產(chǎn)零件和印制板的自動(dòng)化測(cè)量。


該系列包含三個(gè)型號(hào):


  • XDLM 231 配備平面支撐臺(tái);

  • XDLM 232 搭載手動(dòng)操作的 X/Y 臺(tái);

  • XDLM 237 則配備電動(dòng) X/Y 平臺(tái),當(dāng)防護(hù)罩開(kāi)啟時(shí),平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移動(dòng)至裝載位置,操作更為便捷。

應(yīng)用實(shí)例

XDLM 測(cè)量系統(tǒng)在接插件和觸點(diǎn)的鍍層測(cè)量中應(yīng)用廣泛,可精準(zhǔn)檢測(cè)各類(lèi)基材上的 Au/Ni、Au/PdNi/Ni、Ag/Ni 或 Sn/Ni 等鍍層厚度。由于這類(lèi)產(chǎn)品的功能區(qū)多為細(xì)小結(jié)構(gòu)(如凹槽、突起等),測(cè)量時(shí)需搭配小尺寸準(zhǔn)直器或適配樣品形狀的專(zhuān)用準(zhǔn)直器。例如,針對(duì)橢圓形樣品,采用開(kāi)槽準(zhǔn)直器可有效提升信號(hào)強(qiáng)度,確保測(cè)量精度。


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