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揭秘物質(zhì)的局部結(jié)構(gòu):X射線吸收譜儀(XAS)技術(shù)簡介

來源:安徽吸收譜儀器設(shè)備有限公司   2025年09月11日 09:38  
  X射線吸收譜儀(XAS)是一種基于同步輻射光源的先進(jìn)光譜技術(shù),通過分析X射線與物質(zhì)相互作用后的信號變化,揭示材料的元素組成、電子態(tài)及微觀結(jié)構(gòu)信息。其核心在于利用X射線激發(fā)原子內(nèi)層電子,通過檢測電子躍遷產(chǎn)生的熒光或俄歇電子信號,獲取物質(zhì)局域結(jié)構(gòu)的“指紋”信息。
  技術(shù)原理:電子躍遷的“顯微鏡”
  當(dāng)X射線能量達(dá)到原子內(nèi)層電子的電離閾值時(shí),會引發(fā)電子躍遷,形成吸收邊。根據(jù)能量范圍不同,XAS分為兩個(gè)關(guān)鍵區(qū)域:
  X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES):吸收邊10eV至后50eV,反映電子態(tài)和化學(xué)環(huán)境。例如,通過分析XANES譜中的邊前峰位置,可判斷金屬離子的價(jià)態(tài)(如Fe²?與Fe³?的吸收邊能量差約2-3eV)。
  擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS):吸收邊后50eV至1000eV,揭示原子間距離、配位數(shù)等結(jié)構(gòu)參數(shù)。光電子與周圍原子散射產(chǎn)生的干涉效應(yīng),使吸收系數(shù)呈現(xiàn)周期性振蕩,通過傅里葉變換可解析出鍵長(精度達(dá)0.01Å)和配位數(shù)。
  技術(shù)優(yōu)勢:無損、原位、高靈敏
  XAS對樣品形態(tài)無嚴(yán)格要求,可分析粉末、薄膜、液體甚至氣體,且不破壞樣品。結(jié)合同步輻射光源的高亮度、波長連續(xù)可調(diào)特性,XAS可實(shí)現(xiàn)原位測試(如高溫、高壓、電化學(xué)環(huán)境),動態(tài)追蹤材料在反應(yīng)中的結(jié)構(gòu)演變。例如,在鋰離子電池研究中,XAS可實(shí)時(shí)監(jiān)測電極材料充放電過程中過渡金屬的價(jià)態(tài)變化,為優(yōu)化電池性能提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
  應(yīng)用領(lǐng)域:從催化劑到生物大分子
  XAS技術(shù)已廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、能源及生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域:
  催化劑研究:解析活性中心結(jié)構(gòu),揭示反應(yīng)機(jī)理。例如,通過XAS發(fā)現(xiàn)單原子催化劑中金屬位點(diǎn)的配位環(huán)境,指導(dǎo)高效催化劑設(shè)計(jì)。
  能源材料:分析電池電極材料的離子脫嵌機(jī)制,提升儲能效率。
  環(huán)境科學(xué):追蹤污染物在環(huán)境中的形態(tài)轉(zhuǎn)化,為治理提供依據(jù)。
  生物醫(yī)學(xué):研究金屬蛋白的活性中心結(jié)構(gòu),助力藥物開發(fā)。
  未來展望:技術(shù)迭代與跨學(xué)科融合
  隨著第四代同步輻射光源(如自由電子激光)的發(fā)展,XAS的能量分辨率和時(shí)間分辨率將進(jìn)一步提升,實(shí)現(xiàn)飛秒級動態(tài)過程觀測。同時(shí),臺式XAS設(shè)備的普及將推動該技術(shù)從大型科研裝置向常規(guī)實(shí)驗(yàn)室延伸,為材料創(chuàng)新、能源轉(zhuǎn)型及生命科學(xué)突破提供更強(qiáng)有力的工具。

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