HiYield-PL 光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)
- 公司名稱 東譜科技（廣州）有限責(zé)任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HiYield-PL
- 產(chǎn)地 中國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/10/24 9:37:02
- 訪問次數(shù) 288
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：熒光量子產(chǎn)率PLQY檢測系統(tǒng)、光致熒光量子產(chǎn)率測試系統(tǒng)、光致發(fā)光與發(fā)光量子產(chǎn)率、量子產(chǎn)率測量儀、PL 量子產(chǎn)率光譜儀、光致發(fā)光量子產(chǎn)率測試方案、熒光量子產(chǎn)率測試方案、發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)
Keywords: Fluorescence quantum yield PLQY test system, photoluminescence quantum yield test system, photoluminescence and luminescence quantum yield, absolute quantum yield measuring instrument, absolute PL quantum yield spectrometer, photoluminescence quantum yield test scheme, absolute fluorescence quantum Yield test scheme, luminescence quantum efficiency test system
產(chǎn)品簡介
光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng) HiYield-PL是東譜科技HiOE綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，與東譜科技的電致發(fā)光特性測量系統(tǒng) HiYield-EL（請垂詢銷售專員）共同為行業(yè)提供了完善的發(fā)光樣品測量方案。HiYield-PL 系統(tǒng)由一系列相應(yīng)的測量組件組成，包括激發(fā)光源、單色儀、光譜測量模塊等。
利用該系統(tǒng)組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型樣品的測量系統(tǒng)，也可以適應(yīng)豐富的測量場景，如手套箱測量等。
光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng) HiYield-PL測量系統(tǒng)具備以下主要功能:
1）采用PL法，結(jié)合積分球，準確測量發(fā)光樣品的效率參數(shù)、輻射度參數(shù)、色度參數(shù)等；
2）高靈敏度、高動態(tài)范圍、高信噪比的測量；
3）多種測量模式可供選擇：單激發(fā)波長量子效率、激發(fā)波長依賴量子效率、量子效率穩(wěn)定性測試；
4）全自動一鍵測試。
產(chǎn)品特點
□ 靈活的模塊化設(shè)計，可以適合各種測量場景；
□ 專業(yè)的研究級算法加持，精準得到PLQY數(shù)據(jù)；
□ 整機緊湊，可置于手套箱進行氮氣氛圍測試；
□ 可選配自動進樣系統(tǒng)，減少人為操作失誤，提高測量重復(fù)性；
□ 軟件全自動流程化操作，一鍵測量所有參數(shù)。
功能參數(shù)
□ 發(fā)光量子效率（PLQY），內(nèi)量子效率（IQE）；
□ 效率參數(shù)：激發(fā)波長依賴量子效率、藍光吸收比、衰減比率；
□ 輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光子數(shù)、光通量、光視效能、峰值波長、中心波長等；
□ 色度學(xué)：CIE色度坐標、相關(guān)色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB顏色值等；
□ 衰減參數(shù)：PLQY-t、λ-t、Radiance-t、Lumen-t、K-t、CIE-t、CCT-t、CRI-t等。
功能模塊
光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)系統(tǒng) | ||
型號 | HiYield-PL | |
規(guī)格配置 | 參數(shù) | |
激發(fā)光模塊（氙燈） | 光源：150W 氙燈 | |
激發(fā)波長范圍：250-700nm | ||
光學(xué)帶寬：2nm-5 nm | ||
穩(wěn)定性：3% | ||
激發(fā)波長電動控制 | ||
狹縫電動控制 | ||
快門電動控制 | ||
激發(fā)光模塊（LED） | 激發(fā)波長：365 nm、405 nm、450 nm、520 nm、635 nm等 | |
功率調(diào)節(jié)范圍：0-100 | ||
激發(fā)功率：3.5 mW@365 nm, 5 mW@405 nm, 2.5 mW@450 nm | ||
穩(wěn)定性：≤0.5% | ||
光譜測試模塊 | 波長范圍：350-1100 nm；900-1700nm可選 | |
信噪比：1000：1 | ||
積分時間：3.8 ms–10 s | ||
動態(tài)范圍：3.4 x 106(system); 1300:1 for a single acquisition | ||
雜散光：<0.05% @ 600 nm; <0.10% @ 435 nm | ||
光學(xué)分辨率：~2.5 nm(FWHM) | ||
測試功能及參數(shù) | 測量模式 | 單激發(fā)波長量子效率 |
激發(fā)波長依賴量子效率 | ||
量子效率穩(wěn)定性測試 | ||
功能參數(shù)類別 | 效率參數(shù)：發(fā)光量子效率（PLQY）、內(nèi)量子效率（IQE）、激發(fā)波長依賴量子效率、藍光吸收比、衰減比率。 | |
輻射度學(xué)：光譜功率分布（λ）、輻射通量（Radiance）、光子數(shù)（Photons）、光通量（Lumen）、光視效能（K-value）、峰值波長（PeakWavelength）、中心波長（Central Wavelength）等。 | ||
色度學(xué)：CIE色度坐標、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB顏色值等。 | ||
衰減參數(shù)：PLQY-t、λ-t、Radiance-t、Lumen-t、K-t、CIE-t、CCT-t、CRI-t等。 | ||
其它參數(shù) | 積分球尺寸 | 1.5，3.3，5，6inch等 |
積分球內(nèi)涂層 | BaSO4、PTFE、Spectraflect、Spectralon等 | |
光纖芯徑 | 200μm, 600μm, 1000 μm | |
夾具 | 根據(jù)客戶樣品尺寸定制：比色皿夾具、薄片夾具、粉末載體等專用夾具。 | |
產(chǎn)品應(yīng)用
□ 有機金屬復(fù)合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉、薄膜、粉末、液體等類型的光致發(fā)光樣品；
□ 可以將系統(tǒng)放置在手套箱中。
HiYield-PL拓展介紹
1、定義
發(fā)光量子效率（PLQY）的全稱是光致發(fā)光量子產(chǎn)率（Photoluminescence Quantum Yield），其核心定義為：物質(zhì)在受到光激發(fā)后，發(fā)射出的光致發(fā)光光子數(shù)與它吸收的激發(fā)光子數(shù)的比值。它專門衡量 “光激發(fā)” 這一特定條件下物質(zhì)的發(fā)光效率，是光電材料、熒光探針等領(lǐng)域的核心性能指標。
熒光量子產(chǎn)率（Absolute fluorescence quantum yield）是指在特定激發(fā)條件下，物質(zhì)發(fā)射出的熒光光子數(shù)量與吸收的激發(fā)光子數(shù)量的精確比值。它是評估熒光材料性能的核心參數(shù)，反映了材料將吸收的光能有效轉(zhuǎn)換為熒光的能力。
內(nèi)量子效率（Internal Quantum Efficiency, IQE）是光電器件（尤其是發(fā)光器件） 的核心性能指標，其核心定義為：器件內(nèi)部，通過輻射復(fù)合產(chǎn)生的光子數(shù)，與外部注入到器件中的電子 - 空穴對總數(shù)的比值。它衡量的是器件內(nèi)部載流子（電子和空穴）轉(zhuǎn)化為光子的 “本征” 效率，不考慮光子從器件內(nèi)部逃逸到外部的損失。
2、光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)在器件研究的應(yīng)用
1. 在發(fā)光材料器件研發(fā)中的核心應(yīng)用
(1) OLED顯示器件開發(fā)
應(yīng)用：測量OLED材料的發(fā)光量子效率，幫助優(yōu)化發(fā)光層材料
價值：提高OLED器件的亮度、效率和使用壽命
(2) LED熒光粉研發(fā)
應(yīng)用：精確測量LED熒光粉的量子效率
價值：直接影響LED的發(fā)光效率和色溫穩(wěn)定性
(3) 太陽能電池材料研究
應(yīng)用：評估染料敏化型PV材料、鈣鈦礦薄膜的光致發(fā)光量子效率
價值：為提高太陽能電池的光電轉(zhuǎn)換效率提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)
(4) 有機-無機雜化材料開發(fā)
應(yīng)用：測量稀土氫氧化物層狀材料(LRHs)等有機-無機雜化熒光材料的發(fā)光性能
價值：通過"天線效應(yīng)"增強材料發(fā)光性能，減少猝滅效應(yīng)
2. 在不同發(fā)光材料體系中的應(yīng)用
(1) 量子點發(fā)光材料
PLQY測量系統(tǒng)可精確評估量子點材料的發(fā)光效率，為高效率LED和顯示器件提供材料支持
(2) 鈣鈦礦發(fā)光材料
PLQY是鈣鈦礦薄膜研究的關(guān)鍵指標，可達88.3%，用于評估其作為發(fā)光材料的潛力
(3) 稀土發(fā)光材料
用于測量稀土離子(如Tb3?)的發(fā)光效率
(4) AIE材料(聚集誘導(dǎo)發(fā)光材料)
PLQY測量系統(tǒng)可評估AIE材料在聚集狀態(tài)下的發(fā)光效率，這對開發(fā)新型有機發(fā)光材料至關(guān)重要
(5) 熒光探針開發(fā)
PLQY測量系統(tǒng)幫助開發(fā)新型熒光探針，實現(xiàn)更低的檢測限和更高的靈敏度，為生物醫(yī)學(xué)檢測提供更優(yōu)解決方案
3. 測量系統(tǒng)的技術(shù)優(yōu)勢對器件研究的支持
光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)(如iSpecPQE)在器件研究中具有以下技術(shù)優(yōu)勢：
高精度測量：通過輻射校準光源積分球，確保測量結(jié)果的精確性
大動態(tài)范圍：可應(yīng)對從微弱發(fā)光到強烈發(fā)光樣品的測量需求
操作便捷：可在手套箱內(nèi)完成搭建，無需取出樣品，減少污染和損壞
多樣品兼容：支持粉末、薄膜和液體樣品的測量
專用軟件：提供便捷操作和實時數(shù)據(jù)分析功能
3、產(chǎn)品主要測試功能特點
1. 核心測量功能：PLQY 的精準測定
這是系統(tǒng)最基礎(chǔ)也是最核心的功能，關(guān)鍵特點在于 “方法全覆蓋” 和 “結(jié)果可靠”。
同時支持相對法測量：
通過積分球直接測量入射、未吸收激發(fā)光及發(fā)射熒光的光子數(shù)，無需標準樣品，適用于新型材料或?qū)Y(jié)果獨立性要求高的場景。
相對法：與已知 PLQY 的標準樣品對比，通過熒光強度和吸光度計算，適用于常規(guī)材料的快速篩選，儀器成本相對較低。
高測量精度與重復(fù)性：系統(tǒng)通過穩(wěn)定的光源、高靈敏度探測器及精準的光學(xué)校準，確保 PLQY 測量誤差可控制在較低范圍（通常 ±3% 以內(nèi)，系統(tǒng)可達 ±1%），滿足科研與工業(yè)質(zhì)控的精度要求。
2. 樣品與應(yīng)用兼容性：覆蓋多類型測試對象
系統(tǒng)設(shè)計強調(diào) “靈活適配不同樣品形態(tài)”，打破材料與器件類型的限制，是其重要特點之一。
兼容多形態(tài)樣品：可直接測試液體（如熒光染料溶液）、粉末（如量子點粉末、熒光粉）、薄膜（如鈣鈦礦薄膜、有機發(fā)光層）及器件，通過更換專用樣品臺實現(xiàn)快速切換。
適配不同發(fā)光強度范圍：從高量子產(chǎn)率材料（到低量子產(chǎn)率材料，系統(tǒng)可通過調(diào)節(jié)光源功率、探測器增益及積分時間，實現(xiàn)寬動態(tài)范圍的精準測量。
3. 光譜與波長靈活性：匹配材料特性
針對不同材料的吸收與發(fā)射特性，系統(tǒng)具備 “波長可調(diào)” 和 “光譜分析” 能力，支持 PLQY 與光譜的聯(lián)動測試。
激發(fā)波長可調(diào)：通過單色儀或可調(diào)諧激光器，可在寬波長范圍內(nèi)選擇激發(fā)光，滿足不同材料的激發(fā)需求（如紫外激發(fā)的稀土熒光粉、可見光激發(fā)的有機染料）。
同步獲取發(fā)射光譜：在測量 PLQY 的同時，可記錄樣品的完整發(fā)射光譜，直接關(guān)聯(lián) “效率” 與 “發(fā)光顏色 / 波長”，例如分析量子點的 PLQY 與其發(fā)射峰位置的關(guān)系，或判斷是否存在熒光淬滅導(dǎo)致的光譜畸變。
4. 定量分析與條件控制：支撐機理研究
系統(tǒng)不僅能測 “靜態(tài) PLQY”，還可結(jié)合環(huán)境條件控制，實現(xiàn) “變量依賴的 PLQY 分析”，深入探究影響效率的因素。
激發(fā)功率依賴性測試：通過改變激發(fā)光功率，測量 PLQY 隨功率的變化，可判斷樣品是否存在濃度淬滅、缺陷態(tài)飽和等現(xiàn)象。
溫度依賴性測試：搭配控溫樣品臺，測量不同溫度下的 PLQY，分析非輻射復(fù)合對效率的影響，尤其適用于器件低溫性能研究。
5. 穩(wěn)定性與自動化：提升測試效率
針對批量測試或長時間實驗需求，系統(tǒng)具備 “高穩(wěn)定性” 和 “自動化操作” 特點，降低人為誤差并節(jié)省時間。
長期測試穩(wěn)定性：光源功率穩(wěn)定性和探測器漂移校正功能，確保長時間連續(xù)測試結(jié)果可靠。
自動化流程與數(shù)據(jù)導(dǎo)出：通過軟件預(yù)設(shè)測試參數(shù)（波長、功率、積分時間），可實現(xiàn)批量樣品的自動測量，并直接導(dǎo)出 PLQY 數(shù)值、光譜圖及原始數(shù)據(jù)，便于后續(xù)數(shù)據(jù)分析與圖表繪制。
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