TTT-02-Kerr Microscope 磁光克爾效應(yīng)：開啟磁學(xué)研究新篇章

磁光克爾效應(yīng)：開啟磁學(xué)研究新篇章

隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，對材料的表征與研究提出了更高要求。磁光克爾系統(tǒng)憑借其高精度的磁性數(shù)據(jù)與圖像獲取能力，結(jié)合光學(xué)、磁學(xué)、電學(xué)等多學(xué)科手段，實(shí)現(xiàn)了多種原位測試功能，展現(xiàn)出在材料科學(xué)、物理、化學(xué)等領(lǐng)域的巨大應(yīng)用潛力。

磁光克爾效應(yīng)原理

磁光克爾效應(yīng)（Magneto-optical Kerr effect）是指當(dāng)一束線偏振光入射至鐵磁性樣品表面時(shí)，其反射光的偏振面會發(fā)生微小旋轉(zhuǎn)，這一旋轉(zhuǎn)角度被稱為克爾旋轉(zhuǎn)角。根據(jù)磁場相對于入射面的不同配置，磁光克爾效應(yīng)可分為以下三種類型：

極向磁光克爾效應(yīng)：磁化方向垂直于樣品表面且平行于入射面?？藸栃盘枏?qiáng)度隨入射角減小而增強(qiáng)，在垂直入射時(shí)達(dá)到Z大。

縱向磁光克爾效應(yīng)：磁化方向位于樣品膜面內(nèi)且平行于入射面。克爾信號強(qiáng)度通常比極向克爾弱一個(gè)數(shù)量級，探測難度較大，但對薄膜樣品研究尤為重要，因其易磁軸常平行于表面。

橫向磁光克爾效應(yīng)：磁化方向位于樣品膜面內(nèi)且垂直于入射面。僅在偏振光偏振方向平行于入射面時(shí)，才會觀察到反射率的微小變化。

磁性薄膜材料研究應(yīng)用

磁光克爾效應(yīng)在研究磁性超薄膜材料的表面磁學(xué)性質(zhì)方面具有獨(dú)特優(yōu)勢。通過測量克爾效應(yīng)，可獲得樣品的磁滯回線，從而分析其磁學(xué)特性；同時(shí)，通過反射光成像技術(shù)，可直觀觀察非透明磁性介質(zhì)的磁疇結(jié)構(gòu)及其動(dòng)態(tài)變化。

1. 磁滯現(xiàn)象

磁滯現(xiàn)象是指鐵磁材料的磁化狀態(tài)變化滯后于外加磁場變化，且在外磁場撤除后仍能保留部分磁性。根據(jù)矯頑力大小，磁性材料可分為軟磁材料、硬磁材料和矩磁材料。磁滯回線是研究這些材料性能的重要工具。

2. 磁疇結(jié)構(gòu)

磁疇是鐵磁體在自發(fā)磁化過程中為降低靜磁能而形成的方向各異的小型磁化區(qū)域。每個(gè)磁疇內(nèi)部原子磁矩排列整齊，但相鄰磁疇方向不同，其交界處稱為磁疇壁。磁疇結(jié)構(gòu)的觀測對理解材料宏觀磁性至關(guān)重要。

托托科技磁光克爾綜合測試平臺

托托科技推出的磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備，具備以下特點(diǎn)：

高分辨率：顯微磁疇空間分辨率優(yōu)于0.5微米，磁光克爾角分辨率優(yōu)于0.1毫度。

多模式支持：兼容極向、縱向、橫向三種磁光克爾效應(yīng)測量方式。

多功能集成：可實(shí)時(shí)追蹤數(shù)百萬點(diǎn)的磁疇動(dòng)態(tài)信息，并支持與探針臺配合，實(shí)現(xiàn)電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)同步觀測。

廣泛應(yīng)用：適用于磁學(xué)及自旋電子學(xué)領(lǐng)域中的磁光克爾效應(yīng)、磁滯回線、磁疇翻轉(zhuǎn)或擴(kuò)展動(dòng)態(tài)等研究。

托托科技的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)以性能與穩(wěn)定性為設(shè)計(jì)核心，滿足實(shí)驗(yàn)室研究與工業(yè)生產(chǎn)的多樣化測試需求，提供磁場激勵(lì)、電流激勵(lì)等多種選項(xiàng)，是自旋特性研究中的得力工具。

磁光克爾效應(yīng)：開啟磁學(xué)研究新篇章。磁光克爾效應(yīng)通過探測鐵磁材料表面磁疇結(jié)構(gòu)對偏振光狀態(tài)的微妙調(diào)制，為高靈敏度、非侵入式的磁學(xué)表征技術(shù)開辟了全新路徑，從而深刻推動(dòng)了自旋電子學(xué)器件研發(fā)與微觀磁相互作用機(jī)理研究，開啟了磁學(xué)研究的嶄新篇章。