ZEM15 澤攸臺(tái)式掃描電鏡的多模式兼容性解析?

參考價(jià)	￥350000-￥450000/件

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng) 北京儀光科技有限公司
品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
型號(hào)ZEM15
所在地北京市
廠(chǎng)商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2025/10/28 13:20:51
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 29

產(chǎn)品標(biāo)簽

澤攸 ZEM15 臺(tái)式掃描電鏡

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

　　北京儀光科技，專(zhuān)注顯微形貌分析！

　　北京儀光科技有限公司是一家專(zhuān)門(mén)從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺(tái)式掃描電鏡/臺(tái)階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機(jī)、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機(jī)、冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、光學(xué)平臺(tái)等各類(lèi)型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀(guān)察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。

　　我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國(guó)徠卡等進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)各類(lèi)型光學(xué)顯微鏡、安徽澤攸臺(tái)式掃描電鏡&臺(tái)階儀&電鏡原位分析、美國(guó)RMC超薄切片機(jī)/半薄切片機(jī)、德國(guó)蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國(guó)Linkam冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、防震平臺(tái)等材料制備及微觀(guān)分析儀器。我們的客戶(hù)涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車(chē)、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開(kāi)放的視野、專(zhuān)業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案。

　　愿景：讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效！

　　使命：為材料用戶(hù)提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級(jí)到納米級(jí)樣品制備及微觀(guān)形貌分析解決方案!

展開(kāi)

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)

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產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,地礦,能源,汽車(chē)及零部件,綜合

澤攸臺(tái)式掃描電鏡的多模式兼容性解析

現(xiàn)代科學(xué)研究越來(lái)越依賴(lài)跨學(xué)科合作，但不同領(lǐng)域?qū)﹄婄R的需求差異巨大：材料學(xué)家需要高分辨表面形貌，生物學(xué)家關(guān)注低損傷超微結(jié)構(gòu)，化學(xué)家側(cè)重成分分布分析。傳統(tǒng)電鏡因功能單一，常需多臺(tái)設(shè)備配合，增加了研究成本與協(xié)作難度。澤攸ZEM15通過(guò)“多模式兼容設(shè)計(jì)”，成為跨學(xué)科研究的“通用表征平臺(tái)”。

ZEM15的電子光學(xué)系統(tǒng)支持三種成像模式切換：

表面形貌模式（SE二次電子探測(cè)）：分辨率2nm，放大倍數(shù)10-300,000×，適用于材料斷口、納米顆粒形貌觀(guān)察；
成分襯度模式（BSE背散射電子探測(cè)）：對(duì)原子序數(shù)敏感，可區(qū)分合金中的Fe、Cu、Al等元素，適用于金屬析出相分析；
低損傷模式（低電壓+低束流）：5kV加速電壓，0.1nA束流，適用于生物切片、高分子薄膜觀(guān)察。

某綜合性大學(xué)的交叉實(shí)驗(yàn)室用ZEM15開(kāi)展“納米藥物載體”研究：材料組用表面形貌模式觀(guān)察脂質(zhì)體納米顆粒的分散狀態(tài)，生物組用低損傷模式分析載體與細(xì)胞的相互作用，化學(xué)組用成分襯度模式檢測(cè)載體表面PEG修飾的均勻性。三方共用一臺(tái)設(shè)備，數(shù)據(jù)格式統(tǒng)一，協(xié)作效率提升60%。

設(shè)備的軟件生態(tài)進(jìn)一步強(qiáng)化了跨學(xué)科適配性。配套分析軟件支持多格式數(shù)據(jù)導(dǎo)入（TEM、AFM圖像）、三維重構(gòu)（基于SEM序列掃描）、統(tǒng)計(jì)分析（顆粒尺寸、分布），滿(mǎn)足不同領(lǐng)域的研究需求。某催化研究團(tuán)隊(duì)用其分析催化劑顆粒的分散度，通過(guò)三維重構(gòu)功能計(jì)算活性位點(diǎn)暴露率，研究成果發(fā)表于《催化學(xué)報(bào)》。

對(duì)跨學(xué)科團(tuán)隊(duì)而言，ZEM15不是“單一工具”，而是打破研究邊界的“通用語(yǔ)言”。它用多模式兼容、統(tǒng)一數(shù)據(jù)接口，讓不同領(lǐng)域的研究者能高效協(xié)作，共同探索微觀(guān)世界的奧秘。澤攸臺(tái)式掃描電鏡的多模式兼容性解析