ZEM15 澤攸臺式掃描電鏡在文化遺產(chǎn)領(lǐng)域應用實踐?

參考價	￥350000-￥450000/件

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 北京儀光科技有限公司
品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
型號ZEM15
所在地北京市
廠商性質(zhì)代理商
更新時間2025/10/28 13:24:30
訪問次數(shù) 29

產(chǎn)品標簽

澤攸 ZEM15 臺式掃描電鏡

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　　北京儀光科技，專注顯微形貌分析！

　　北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺式掃描電鏡/臺階儀/電鏡原位分析、各進口及國產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機、冷熱臺、陰極發(fā)光臺、光學平臺等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應用檢測等全套分析檢測解決方案。

　　我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國徠卡等進口及國產(chǎn)各類型光學顯微鏡、安徽澤攸臺式掃描電鏡&臺階儀&電鏡原位分析、美國RMC超薄切片機/半薄切片機、德國蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國Linkam冷熱臺、陰極發(fā)光臺、防震平臺等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車、工業(yè)材料、電子半導體、電力、能源、檢測分析等各個行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè)、全面的顯微形貌分析應用解決方案。

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　　使命：為材料用戶提供準確、可靠、全面的毫米級到納米級樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺式電鏡&臺階儀&原位分析、徠卡等光學顯微鏡、RMC超薄切片機、Linkam冷熱臺

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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應用領(lǐng)域	石油,地礦,能源,汽車及零部件,綜合

澤攸臺式掃描電鏡在文化遺產(chǎn)領(lǐng)域應用實踐

文物保護遵循“最小干預”原則，但傳統(tǒng)檢測手段（如X射線衍射、拉曼光譜）僅能提供成分信息，難以直觀揭示文物的微觀損傷機制。澤攸ZEM15憑借“無損觀察+高分辨成像”，成為文物保護的“微觀解碼器”。

對于金屬文物（如青銅器、鐵器），ZEM15可在不取樣、不破壞表面的前提下，觀察銹蝕層的微觀結(jié)構(gòu)。自然銹蝕層通常呈疏松多孔狀，而人為修復的銹蝕層因添加粘結(jié)劑，結(jié)構(gòu)更致密。某博物館用ZEM15檢測一件商代青銅鼎殘片，通過高倍成像發(fā)現(xiàn)局部銹蝕層存在人工修補痕跡，避免了誤將修復部分當作原始遺存。

對于有機質(zhì)文物（如絲綢、書畫），ZEM15的低電壓模式（5kV）可減少電子束對纖維的損傷，同時清晰顯示纖維的交織方式、降解程度。某考古所用其分析漢代絲綢殘片，觀察到絲纖維表面的氧化裂紋呈“魚鱗狀”分布，推斷其埋藏環(huán)境存在高濕度波動，為文物保護方案的制定提供了微觀依據(jù)。

設(shè)備的“三維重構(gòu)”功能進一步提升了文物的數(shù)字化保護水平。通過對同一區(qū)域的多角度掃描，ZEM15可生成銹蝕層、纖維結(jié)構(gòu)的三維模型，精確測量缺陷尺寸、分布密度。某石質(zhì)文物修復項目中，團隊用ZEM15掃描石雕表面的裂隙，生成三維模型后制定靶向加固方案，修復效果較傳統(tǒng)方法提升30%。

對文物保護而言，ZEM15不是“檢測工具”，而是“歷史信息的解讀者”。它用無損成像與微觀分析，讓文物“開口說話”，為文化遺產(chǎn)的科學保護提供了全新維度。澤攸臺式掃描電鏡在文化遺產(chǎn)領(lǐng)域應用實踐