ZEM15 澤攸掃描電鏡材料研發(fā)的快速驗(yàn)證利器?

參考價(jià)	￥350000-￥450000/件

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 北京儀光科技有限公司
品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
型號(hào)ZEM15
所在地北京市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2025/10/30 14:02:11
訪問次數(shù) 12

產(chǎn)品標(biāo)簽

澤攸 ZEM15 臺(tái)式掃描電鏡

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　　北京儀光科技，專注顯微形貌分析！

　　北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺(tái)式掃描電鏡/臺(tái)階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機(jī)、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機(jī)、冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、光學(xué)平臺(tái)等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。

　　我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國(guó)徠卡等進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)各類型光學(xué)顯微鏡、安徽澤攸臺(tái)式掃描電鏡&臺(tái)階儀&電鏡原位分析、美國(guó)RMC超薄切片機(jī)/半薄切片機(jī)、德國(guó)蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國(guó)Linkam冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、防震平臺(tái)等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè)、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案。

　　愿景：讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效！

　　使命：為材料用戶提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級(jí)到納米級(jí)樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

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產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,地礦,能源,汽車及零部件,綜合

澤攸掃描電鏡材料研發(fā)的快速驗(yàn)證利器 新材料研發(fā)中，微觀結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)聯(lián)驗(yàn)證是縮短開發(fā)周期的核心。對(duì)中小型企業(yè)研發(fā)部門而言，大型電鏡的高成本與長(zhǎng)預(yù)約時(shí)間常成為瓶頸。澤攸ZEM15臺(tái)式電子顯微鏡以“快速響應(yīng)+穩(wěn)定成像”為優(yōu)勢(shì)，為材料研發(fā)的微觀驗(yàn)證環(huán)節(jié)提供了輕量化支持。

在成像效率上，ZEM15的掃描速度可調(diào)節(jié)，配合大視場(chǎng)物鏡，單次掃描覆蓋面積較傳統(tǒng)臺(tái)式電鏡提升約30%。研發(fā)人員可快速獲取樣品全局形貌，再局部放大觀察細(xì)節(jié)，避免了傳統(tǒng)電鏡“先低倍定位、再高倍觀察”的繁瑣流程。某新能源電池材料企業(yè)的測(cè)試顯示，優(yōu)化電極片涂層均勻性時(shí)，使用ZEM15可在2小時(shí)內(nèi)完成5組樣品的對(duì)比分析，較以往使用大型電鏡的時(shí)間縮短60%。

樣品兼容性是研發(fā)場(chǎng)景的關(guān)鍵需求。ZEM15支持多種樣品類型，包括塊狀、粉末、薄膜及不規(guī)則樣品。其樣品倉設(shè)計(jì)靈活，通過適配器可裝載直徑≤25mm的樣品臺(tái)，配合傾斜校正功能，能準(zhǔn)確反映樣品實(shí)際形貌。在研究高分子共混物的相分離現(xiàn)象時(shí)，研發(fā)人員可直接觀察不同配比下材料的表面形貌差異，為配方調(diào)整提供直觀依據(jù)。

設(shè)備的穩(wěn)定性直接影響研發(fā)數(shù)據(jù)的可靠性。ZEM15的電子槍采用熱發(fā)射源，束流穩(wěn)定性優(yōu)于同類產(chǎn)品，連續(xù)工作4小時(shí)以上仍能保持成像一致性。配套的分析軟件支持實(shí)時(shí)測(cè)量（如長(zhǎng)度、角度、面積），數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)為通用格式，便于后續(xù)與力學(xué)、電學(xué)測(cè)試結(jié)果關(guān)聯(lián)分析。某半導(dǎo)體材料研發(fā)團(tuán)隊(duì)反饋，使用ZEM15后，微觀結(jié)構(gòu)與器件性能的相關(guān)性驗(yàn)證效率提升40%，研發(fā)周期顯著縮短。

材料研發(fā)的突破依賴于“快速試錯(cuò)+精準(zhǔn)驗(yàn)證”。澤攸ZEM15以高效的成像能力、廣泛的樣品兼容性及穩(wěn)定的性能，成為研發(fā)團(tuán)隊(duì)微觀驗(yàn)證環(huán)節(jié)的實(shí)用工具。當(dāng)微觀觀察不再成為研發(fā)流程的堵點(diǎn)，創(chuàng)新成果的轉(zhuǎn)化速度將進(jìn)一步加快。澤攸掃描電鏡材料研發(fā)的快速驗(yàn)證利器