ZEM15 澤攸掃描電鏡工業(yè)質(zhì)檢的微觀缺陷篩查工具?

參考價	￥350000-￥450000/件

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 北京儀光科技有限公司
品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
型號ZEM15
所在地北京市
廠商性質(zhì)代理商
更新時間2025/10/30 14:08:04
訪問次數(shù) 16

產(chǎn)品標(biāo)簽

澤攸 ZEM15 臺式掃描電鏡

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公司介紹 主營產(chǎn)品

　　北京儀光科技，專注顯微形貌分析！

　　北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺式掃描電鏡/臺階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機、冷熱臺、陰極發(fā)光臺、光學(xué)平臺等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測等全套分析檢測解決方案。

　　我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國徠卡等進(jìn)口及國產(chǎn)各類型光學(xué)顯微鏡、安徽澤攸臺式掃描電鏡&臺階儀&電鏡原位分析、美國RMC超薄切片機/半薄切片機、德國蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國Linkam冷熱臺、陰極發(fā)光臺、防震平臺等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測分析等各個行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè)、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案。

　　愿景：讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效！

　　使命：為材料用戶提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級到納米級樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺式電鏡&臺階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機、Linkam冷熱臺

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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,地礦,能源,汽車及零部件,綜合

澤攸掃描電鏡工業(yè)質(zhì)檢的微觀缺陷篩查工具精密制造中，微觀缺陷（如表面劃痕、顆粒污染、焊錫空洞）直接影響產(chǎn)品可靠性。傳統(tǒng)質(zhì)檢依賴人工目檢或離線電鏡檢測，效率低且漏檢率高。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“在線化+高分辨”為優(yōu)勢，為工業(yè)質(zhì)檢提供了高效的微觀缺陷篩查方案。

工業(yè)質(zhì)檢對設(shè)備的“即時性”要求突出。ZEM15無需復(fù)雜制樣，樣品可直接放置于樣品倉，開機后3分鐘內(nèi)進(jìn)入工作狀態(tài)。某PCB制造企業(yè)將其集成于生產(chǎn)線旁，用于檢測焊盤表面缺陷：操作員通過觸控屏實時觀察圖像，發(fā)現(xiàn)異常（如錫珠、氧化）時可立即標(biāo)記并剔除不良品，將質(zhì)檢耗時從傳統(tǒng)的2小時/批次縮短至15分鐘/批次。

缺陷識別的準(zhǔn)確性依賴于成像質(zhì)量。ZEM15的二次電子探測器對表面微結(jié)構(gòu)敏感，可清晰顯示亞微米級缺陷（如0.5μm的劃痕）。其自動亮度/對比度調(diào)節(jié)功能減少了人為判讀誤差，配合軟件的缺陷自動標(biāo)注工具，質(zhì)檢員的漏檢率下降約50%。某精密模具企業(yè)測試顯示，使用ZEM15后，模具表面磨損程度的檢測一致性從82%提升至95%，售后返修率顯著降低。

成本控制是工業(yè)企業(yè)的重要考量。ZEM15無需獨立實驗室環(huán)境，普通車間防塵條件下即可運行；維護(hù)成本低，常規(guī)耗材（如燈絲、探測器保護(hù)窗）價格親民，年均維護(hù)費用約為傳統(tǒng)電鏡的1/3。某汽車零部件廠商表示：“引入ZEM15后，我們無需外送樣品檢測，每年節(jié)省物流與檢測費用超10萬元，同時質(zhì)檢效率提升3倍?！?/section>

工業(yè)質(zhì)檢的本質(zhì)是“預(yù)防缺陷+降低成本”。澤攸ZEM15以快速的響應(yīng)能力、可靠的成像質(zhì)量及經(jīng)濟的運維成本，成為工業(yè)質(zhì)檢環(huán)節(jié)的微觀缺陷篩查利器。當(dāng)缺陷無處遁形，產(chǎn)品的可靠性與企業(yè)的競爭力將同步提升。澤攸掃描電鏡工業(yè)質(zhì)檢的微觀缺陷篩查工具