ZEM15 澤攸掃描電鏡科研協(xié)作的標(biāo)準(zhǔn)化觀察工具?

參考價(jià)	￥350000-￥450000/件

參考價(jià)

￥350000-￥450000/件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 北京儀光科技有限公司
品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
型號ZEM15
所在地北京市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2025/10/30 14:14:18
訪問次數(shù) 13

產(chǎn)品標(biāo)簽

澤攸 ZEM15 臺式掃描電鏡

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公司介紹 主營產(chǎn)品

　　北京儀光科技，專注顯微形貌分析！

　　北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺式掃描電鏡/臺階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機(jī)、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機(jī)、冷熱臺、陰極發(fā)光臺、光學(xué)平臺等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測等全套分析檢測解決方案。

　　我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國徠卡等進(jìn)口及國產(chǎn)各類型光學(xué)顯微鏡、安徽澤攸臺式掃描電鏡&臺階儀&電鏡原位分析、美國RMC超薄切片機(jī)/半薄切片機(jī)、德國蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國Linkam冷熱臺、陰極發(fā)光臺、防震平臺等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè)、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案。

　　愿景：讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效！

　　使命：為材料用戶提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級到納米級樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺式電鏡&臺階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺

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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,地礦,能源,汽車及零部件,綜合

澤攸掃描電鏡科研協(xié)作的標(biāo)準(zhǔn)化觀察工具跨機(jī)構(gòu)科研協(xié)作中，微觀數(shù)據(jù)的可比性是影響成果轉(zhuǎn)化的關(guān)鍵。不同實(shí)驗(yàn)室因設(shè)備型號、參數(shù)設(shè)置差異，同一樣品的成像結(jié)果可能不一致，導(dǎo)致分析偏差。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“標(biāo)準(zhǔn)化+兼容性”為設(shè)計(jì)核心，為科研協(xié)作提供了統(tǒng)一的微觀觀察語言。

科研協(xié)作對設(shè)備的“一致性”要求嚴(yán)格。ZEM15的電子光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過嚴(yán)格校準(zhǔn)，關(guān)鍵參數(shù)（如束流穩(wěn)定性、像散校正精度）符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，確保不同實(shí)驗(yàn)室使用同一型號設(shè)備時(shí)，成像結(jié)果具有可比性。某新能源聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室（高校+企業(yè)）將ZEM15作為共用設(shè)備，雙方制定的“樣品觀察參數(shù)模板”可直接應(yīng)用于各自實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備，避免了因設(shè)備差異導(dǎo)致的數(shù)據(jù)偏差，協(xié)作效率提升約40%。

設(shè)備的便攜性為跨機(jī)構(gòu)交流提供了便利。ZEM15機(jī)身緊湊（尺寸約600×500×400mm），重量輕于80kg，可通過常規(guī)物流運(yùn)輸。某材料研究所曾將其借予合作高校，用于本科生的聯(lián)合培養(yǎng)實(shí)驗(yàn)：學(xué)生在本校實(shí)驗(yàn)室即可使用與研究所同款的設(shè)備，對實(shí)驗(yàn)方法與數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的理解更深入，論文中微觀分析部分的規(guī)范性顯著提高。

科研協(xié)作的目標(biāo)是“資源共享+成果共創(chuàng)”。澤攸ZEM15通過標(biāo)準(zhǔn)化的成像性能與便攜的設(shè)計(jì)，打破了設(shè)備壁壘，使不同機(jī)構(gòu)的研究者能基于同一套微觀數(shù)據(jù)展開討論。當(dāng)微觀觀察的語言統(tǒng)一，科研協(xié)作的效率與成果的可信度將獲得實(shí)質(zhì)性突破。澤攸掃描電鏡科研協(xié)作的標(biāo)準(zhǔn)化觀察工具