ZEM15 澤攸臺(tái)式掃描電鏡跨學(xué)科研究觀察平臺(tái)?

參考價(jià)	￥350000-￥450000/件

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￥350000-￥450000/件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng) 北京儀光科技有限公司
品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
型號(hào)ZEM15
所在地北京市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2025/10/30 14:38:13
訪問(wèn)次數(shù) 26

產(chǎn)品標(biāo)簽

澤攸 ZEM15 臺(tái)式掃描電鏡

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

　　北京儀光科技，專(zhuān)注顯微形貌分析！

　　北京儀光科技有限公司是一家專(zhuān)門(mén)從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺(tái)式掃描電鏡/臺(tái)階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機(jī)、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機(jī)、冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、光學(xué)平臺(tái)等各類(lèi)型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。

　　我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國(guó)徠卡等進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)各類(lèi)型光學(xué)顯微鏡、安徽澤攸臺(tái)式掃描電鏡&臺(tái)階儀&電鏡原位分析、美國(guó)RMC超薄切片機(jī)/半薄切片機(jī)、德國(guó)蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國(guó)Linkam冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、防震平臺(tái)等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶(hù)涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車(chē)、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開(kāi)放的視野、專(zhuān)業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案。

　　愿景：讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效！

　　使命：為材料用戶(hù)提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級(jí)到納米級(jí)樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

展開(kāi)

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)

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產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,地礦,能源,汽車(chē)及零部件,綜合

澤攸臺(tái)式掃描電鏡跨學(xué)科研究觀察平臺(tái)

現(xiàn)代科研強(qiáng)調(diào)交叉融合，不同學(xué)科的研究者常需共享微觀數(shù)據(jù)。但因設(shè)備差異、操作習(xí)慣不同，跨學(xué)科合作中的“觀察鴻溝”普遍存在。澤攸ZEM15臺(tái)式電子顯微鏡以“通用化+易操作”為設(shè)計(jì)理念，為跨學(xué)科研究提供了統(tǒng)一的微觀觀察平臺(tái)。

跨學(xué)科研究對(duì)設(shè)備的“兼容性”要求突出。ZEM15的操作邏輯簡(jiǎn)潔，非物理背景的研究者（如化學(xué)、生物學(xué)者）經(jīng)短期培訓(xùn)即可掌握。某高校“先進(jìn)能源材料”交叉實(shí)驗(yàn)室中，化學(xué)組研究者用ZEM15觀察催化劑表面活性位點(diǎn)，物理組研究者分析其電子態(tài)分布，雙方基于同一套圖像數(shù)據(jù)展開(kāi)討論，研究效率提升約50%。

設(shè)備的多場(chǎng)景適應(yīng)性促進(jìn)了學(xué)科融合。ZEM15可觀察材料、生物、化工等多種樣品，支持從表面形貌到成分分布的初步分析。某環(huán)境科學(xué)團(tuán)隊(duì)將其用于土壤礦物與微生物互作研究：通過(guò)ZEM15觀察礦物表面附著的細(xì)菌形態(tài)，結(jié)合化學(xué)分析，揭示了微生物對(duì)污染物降解的作用機(jī)制。

跨學(xué)科創(chuàng)新的源泉是“不同視角的碰撞”。澤攸ZEM15通過(guò)通用的觀察語(yǔ)言，打破了學(xué)科間的技術(shù)壁壘，使不同領(lǐng)域的研究者能?chē)@微觀圖像展開(kāi)深度合作。當(dāng)微觀數(shù)據(jù)成為共同的研究對(duì)象，跨學(xué)科的突破將更頻繁地涌現(xiàn)。澤攸臺(tái)式掃描電鏡跨學(xué)科研究觀察平臺(tái)