北京恒奧德儀器儀表有限公司
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變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀是開展半導(dǎo)體研究的重要方法

時(shí)間:2017-4-28閱讀:182
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變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 型號:LK-HT-648

 

霍爾效應(yīng)的測量是開展半導(dǎo)體研究的重要方法。本機(jī)利用計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測量,行半導(dǎo)體導(dǎo)電機(jī)制及散射機(jī)制的研究,并可確定半導(dǎo)體的些基本參數(shù),如導(dǎo)電類型、載子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。        

主要標(biāo)

1.電磁鐵          0-300mT連續(xù)可調(diào)

2. 勵(lì)磁電源       0-連續(xù)可調(diào)  可自動換向       穩(wěn)定性﹤±0.1%

3. 數(shù)字斯拉計(jì)              0-2000mT       三位半數(shù)字顯示   分辨率0.001

4. 恒源輸出       1mA       穩(wěn)定性±0.1%

5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量zui小分辨率1uV

6. 溫度變化測量范圍           80-400K

7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機(jī)箱、測量系統(tǒng)主機(jī)、恒溫器四分組成

8. 探頭樣品采用單晶鍺片

 

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