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  • 半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀 參考價(jià):面議

    半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀-OPTM 測(cè)量目標(biāo)膜的絕對(duì)反射率,實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測(cè)試! (分光干渉法)
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
    膜厚測(cè)試儀半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀大塚電子
    2025/3/19 8:12:242995

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