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涂膜劃痕試驗(yàn)儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號JK-QHZ

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

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所  在  地北京市

更新時間：2019-12-09 16:53:08瀏覽次數(shù)：681次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
涂膜劃痕試驗(yàn)儀
用途：測定涂層抗劃透能力大小評價涂膜硬度
試驗(yàn)特征：硬度以劃針劃破涂膜時承載砝碼的Z小荷重（抗劃痕值）表示

涂膜劃痕試驗(yàn)儀  型號：JK-QHZ

簡單介紹：

用途：測定涂層抗劃透能力大小評價涂膜硬度 
試驗(yàn)特征：硬度以劃針劃破涂膜時承載砝碼的zui小荷重（抗劃痕值）表示

相關(guān)參數(shù)：

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T9279-88 
　　　　    ISO1518-73 
劃痕長度大于等于60mm 
式樣速度：30-40mm/s 
劃針鋼球：φ 1mm 
加荷范圍：0-2000g 
外形尺寸：300×200×300

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

柱面照度計(jì) 平均柱面照度計(jì) 型號：HYD-PHOTO-2000EZ

 

產(chǎn)品簡介：

HYD-PHOTO-2000EZ平均柱面照度計(jì)主要用于廣場、展覽大廳、體育場館、候機(jī)大廳等大型公共建筑照明的照明效果評價。用于測量場館的空間照度。  

 

特性： 
1、HYD-PHOTO-2000EZ用于測試場館的空間照度；
2、多檔量程自動切換；
3、零點(diǎn)穩(wěn)定，精度、穩(wěn)定度高；
4、一（CLASS B）V（λ）校正和余弦校正光度探頭；
5、RS-232串行通訊功能；
6、照度測量范圍：1.0lx-200klx；
7、照度測量精度： 一；
8、可根據(jù)需要配置全柱面光度探頭或半柱面光度探頭。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

自動安平照度計(jì) 安平照度計(jì) 型號：HYD-PHOTO-2000AH

 

產(chǎn)品簡介：

PHOTO-2000AH自動安平照度計(jì)主要用于廣場、展覽大廳、體育場館、候機(jī)大廳等大型公共建筑照明的照明效果評價，用于測試有傾斜度的表面的垂直照度。  

 

特性： 
1、PHOTO-2000AH用于測試有傾斜度的表面的垂直照度；
2、標(biāo)準(zhǔn)（CLASS A） V（λ）校正和余弦校正光度探頭；
3、照度測量范圍: 0.01lx-200klx；
4、多量程自動切換
5、照度測量精度: 一；
6、零點(diǎn)穩(wěn)定，精度、穩(wěn)定度高；
7、RS-232串行通訊功能。

 

 

 

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