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EMG糾偏EPC光電檢測(cè)
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EVK2-CP/800.71/L,EMG |
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SMI-SE/500/2400/1700/500/A,EMG |
SMI-SR/500/2400/1700/500/A,EMG |
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在線測(cè)量法
在線測(cè)量法一般應(yīng)用在批量生產(chǎn)電路板的廠家,生產(chǎn)廠商為了維修方便,一般會(huì)搭建一個(gè)比較通用的調(diào)試維修平臺(tái), 它可以方便的提供電路板所需的電源以及一些必要的初始信號(hào)。在線測(cè)量法主要解決兩個(gè)方面的問題。一是將上兩個(gè)步驟中發(fā)現(xiàn)的問題細(xì)分, Z終鎖定到出現(xiàn)問題的元器件。二是通過上面兩步的檢查,問題并沒有得到解決的,需要通過在線測(cè)量找出故障原因。在線測(cè)量法主要通過以下幾個(gè)步驟來進(jìn)行。
DY步: 給電路板通電, 在這步中需要注意的是,有些電路板電源并不是單一的,可能需要5V,還會(huì)需要正負(fù)12V,24V 等等,不要把該加的電源漏加了。電路板通電后,通過手摸電路板上的元器件,看是否有發(fā)燙發(fā)熱的元件, 重點(diǎn)檢查74 系列芯片,如果元件有燙手的情況, 則說明此元件有可能已經(jīng)損壞。更換元件后,檢查電路板故障是否已解決。
第二步:用示波器測(cè)量電路板上的門電路,觀察其是否符合邏輯關(guān)系。若輸出不符合邏輯, 需要分兩種情況分別對(duì)待,一種是輸出應(yīng)該是低電平的,實(shí)際測(cè)量為高電平,可以直接判斷芯片損壞;另一種是輸出應(yīng)該是高電平的,實(shí)際測(cè)量為低的,并不能此判定芯片已經(jīng)損壞, 還需要將芯片與后面的電路斷開,再次測(cè)量,觀察邏輯是否合理,判定芯片的好壞。
第三步:用示波器測(cè)量數(shù)字電路里的晶振,看其是否有輸出。若無輸出, 則需要將與晶振相連的芯片盡可能都摘掉后再進(jìn)行測(cè)量。若還無輸出, 則初步判定晶振已經(jīng)損壞;若有輸出,需要將摘掉的芯片一片一片裝回去,裝一片測(cè)一片,找出故障所在。
第四步: 帶總線結(jié)構(gòu)的數(shù)字電路, 一般包括數(shù)字、地址、控制總線三路。用示波器測(cè)量三路總線,對(duì)比原理圖,觀察信號(hào)是否正常,找出問題。
在線測(cè)量法主要用于兩塊好壞電路板的對(duì)比,通過對(duì)比,發(fā)現(xiàn)問題,解決問題。從而完成電路板的維修。
隨著現(xiàn)代技術(shù)發(fā)展越來越成熟,各種新型儀器、設(shè)備不斷涌現(xiàn),檢測(cè)手段也層出不窮,原始的檢測(cè)設(shè)備、方法越來越不被重視。但是對(duì)一個(gè)從事電子工程的人員來說,依賴簡單的檢測(cè)工具,如萬用表、示波器等進(jìn)行測(cè)量、檢修,仍然是一個(gè)電子工程師的技能
EMG糾偏EPC光電檢測(cè)
而電路板的維修也要注意幾個(gè)原則:
原則一:先看后量
對(duì)待修的電路板首先應(yīng)對(duì)其進(jìn)行目測(cè)。必要時(shí)還要借助于放大鏡觀察。
主要看:
1.是否有斷線和短路處;尤其是電路板上的印制電路板連接線是否存在斷裂粘連等現(xiàn)象;
2.有關(guān)元器件如電阻電容電感二管三管等是否存在斷開現(xiàn)象;
3.是否有人修理過?動(dòng)過哪些元器件?是否存在虛焊漏焊插反插錯(cuò)等問題。
排除上述狀況后這時(shí)候先用萬用表測(cè)量電路板電源與地之間的阻值通常電路板的阻值不應(yīng)小于70Ω。若阻值太小,才幾或十幾歐姆。說明電路板上有元器件被擊穿或部分擊穿必須采取措施將被擊穿的元器件找出來。具體辦法是給被修板加電(注意!此時(shí)一定要搞清該板的工作電壓的電壓值與正負(fù)性不可接錯(cuò)和加入高于工作電壓值。否則將對(duì)待修電路板有傷害!老故障沒排除又增新毛病!!)用點(diǎn)溫計(jì)測(cè)電路板上各器件的溫度,溫度升的較快較高的視為重點(diǎn)懷疑對(duì)象。
若阻值正常后再用萬用表測(cè)量板上的阻容器件二、三管場(chǎng)效應(yīng)管以及剝段開關(guān)等元器件。其目的是首先要確保被測(cè)量過的元器件是正常的。能用一般測(cè)試工具(如萬用表等)解決的問題不要把它復(fù)雜化。
原則二:先外后內(nèi)
如果情況允許Z好是有一塊與待修板一樣的好電路板作為參照。然后使用測(cè)試儀的雙梆VI曲線掃描功能對(duì)兩塊板進(jìn)行好、壞對(duì)比測(cè)試。開始的對(duì)比測(cè)試點(diǎn)可以從電路板的端口開始;然后由表及里尤其是對(duì)電容器的對(duì)比測(cè)試。這可彌補(bǔ)萬用表在線難以測(cè)出電容是否漏電的缺憾。
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