LoRa 測(cè)試儀
LitePoint 的 IQxel-M™ LoRa 測(cè)試解決方案是開箱即可測(cè)試 LoRa 技術(shù)的交鑰匙解決方案。
為確保運(yùn)行，LoRa 設(shè)備必須提供可靠且一致的性能。 IQfact+ LoRa 提供了一種解決方案，可加速批量制造測(cè)試，同時(shí)限度地減少工程工作量。

IQxel-M LoRa 測(cè)試儀

使用 IQxel-M 的 LoRa 測(cè)量解決方案

LoRa 測(cè)試儀

LitePoint 的 IQxel-M™ LoRa 測(cè)試解決方案是開箱即可測(cè)試 LoRa 技術(shù)的交鑰匙解決方案。

為確保運(yùn)行，LoRa 設(shè)備必須提供可靠且一致的性能。 IQfact+ LoRa 提供了一種解決方案，可加速批量制造測(cè)試，同時(shí)限度地減少工程工作量。

快速獲得結(jié)果

簡(jiǎn)單的交鑰匙測(cè)試解決方案

多個(gè)設(shè)備的并行測(cè)試（多 DUT）

使用 IQfact+™ 集成 DUT 控制

Turnkey IQfact+ LoRa 發(fā)射器和接收器測(cè)試解決方案

發(fā)射機(jī)測(cè)試 (SF7 – SF12)

輸出功率

頻率誤差

接收機(jī)測(cè)試 (SF7 – SF12)

接收信號(hào)強(qiáng)度指數(shù)

靈敏度

每技術(shù)選項(xiàng)洛拉

何時(shí)何地使用 IQxel-M LoRa 解決方案進(jìn)行測(cè)試？

在實(shí)驗(yàn)室或制造環(huán)境中

對(duì)于最終產(chǎn)品測(cè)試生命周期階段

對(duì)于支持 LoRa 的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備