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非接觸式電探針電阻測(cè)量?jī)xEC-80P的特點(diǎn)

2025-7-7  閱讀(79)


非接觸式電探針電阻測(cè)量?jī)xEC-80P是一種手動(dòng)無損(渦流法)電阻測(cè)量?jī)x,其特點(diǎn)包括只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻,可以在電阻/薄層電阻測(cè)量模式之間輕松切換,使用jog撥盤輕松設(shè)置測(cè)量條件。該設(shè)備連接到連接器的可替換電阻測(cè)量探頭可支持多種電阻(電阻探針:多可以使用2 + pn判斷探頭)。測(cè)量規(guī)格包括半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)(硅,多晶硅,sic等),新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管,dlc,石墨烯,銀納米線等),導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ito等)。非接觸式電探針電阻測(cè)量?jī)xEC-80P是一種手動(dòng)無損(渦流法)電阻測(cè)量?jī)x,其特點(diǎn)包括只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻,可以在電阻/薄層電阻測(cè)量模式之間輕松切換,使用jog撥盤輕松設(shè)置測(cè)量條件。該設(shè)備連接到連接器的可替換電阻測(cè)量探頭可支持多種電阻(電阻探針:多可以使用2 + pn判斷探頭)。測(cè)量規(guī)格包括半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)(硅,多晶硅,sic等),新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管,dlc,石墨烯,銀納米線等),導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ito等)。



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