|  | 深圳市秋山貿(mào)易有限公司 主營產(chǎn)品: 抹茶生產(chǎn)線,粉碎研磨珠,口紅硬度計(jì) | 
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CT-3型用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
      | 參考價(jià) | ¥ 10000 | 
| 訂貨量 | 1000件 | 
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
                   
				- 型號(hào) CT-3型
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 所在地 深圳市
更新時(shí)間:2025-10-27 14:54:28瀏覽次數(shù):68
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【簡單介紹】          
              
                                                    
        
          
用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的
              | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 | 
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的
用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
- 輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
- 增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
- 廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的校準(zhǔn)范圍為±15%,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
- 1/100范圍:也可以用于Au,Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍(以0.001μm為單位進(jìn)行測量)。
- 墊片范圍的3種類型是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備:可以使用三種類型的墊片,分別為3.4φ,2.4φ和1.7φ,以適配不同尺寸工件,可檢測非導(dǎo)電性基材上的鍍層。
- 配備主動(dòng)功能:主動(dòng)功能可去除一些氧化物,從而減少氧化物測量失敗。
- 簡易范圍設(shè)定:由于所有設(shè)置都是通過撥盤進(jìn)行的,因此可以輕松進(jìn)行待測鍍層的佳設(shè)置。
CT-3型膜厚計(jì)的測量范圍為0.006~300μm,最小分解能可達(dá)0.001μm,能夠測量極薄的鍍層。這款設(shè)備特別擅長超薄層(<1μm)與厚鍍層(≤300μm)的檢測,尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求,適合電子元器件行業(yè)、精密零部件行業(yè)以及通用制造業(yè)的常規(guī)鍍層檢測。
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
- 輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
- 增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
- 廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的校準(zhǔn)范圍為±15%,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
- 1/100范圍:也可以用于Au,Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍(以0.001μm為單位進(jìn)行測量)。
- 墊片范圍的3種類型是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備:可以使用三種類型的墊片,分別為3.4φ,2.4φ和1.7φ,以適配不同尺寸工件,可檢測非導(dǎo)電性基材上的鍍層。
- 配備主動(dòng)功能:主動(dòng)功能可去除一些氧化物,從而減少氧化物測量失敗。
- 簡易范圍設(shè)定:由于所有設(shè)置都是通過撥盤進(jìn)行的,因此可以輕松進(jìn)行待測鍍層的佳設(shè)置。
CT-3型膜厚計(jì)的測量范圍為0.006~300μm,最小分解能可達(dá)0.001μm,能夠測量極薄的鍍層。這款設(shè)備特別擅長超薄層(<1μm)與厚鍍層(≤300μm)的檢測,尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求,適合電子元器件行業(yè)、精密零部件行業(yè)以及通用制造業(yè)的常規(guī)鍍層檢測。









