深圳市秋山貿(mào)易有限公司

主營產(chǎn)品: 抹茶生產(chǎn)線,粉碎研磨珠,口紅硬度計(jì)

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林經(jīng)理
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機(jī):
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址:
深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
編:
個(gè)化:
www.cnakiyama.com
網(wǎng)址:
鋪:
http://www.true-witness.com/st352988/
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CT-3型用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
參考價(jià) 10000
訂貨量 1000
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) CT-3型
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 深圳市

更新時(shí)間:2025-10-27 14:54:28瀏覽次數(shù):68

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【簡單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 5萬-10萬
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀

CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
  1. 輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
  2. 增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
  3. 廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的校準(zhǔn)范圍為±15%,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
  4. 1/100范圍:也可以用于Au,Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍(以0.001μm為單位進(jìn)行測量)。
  5. 墊片范圍的3種類型是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備:可以使用三種類型的墊片,分別為3.4φ,2.4φ和1.7φ,以適配不同尺寸工件,可檢測非導(dǎo)電性基材上的鍍層。
  6. 配備主動(dòng)功能:主動(dòng)功能可去除一些氧化物,從而減少氧化物測量失敗。
  7. 簡易范圍設(shè)定:由于所有設(shè)置都是通過撥盤進(jìn)行的,因此可以輕松進(jìn)行待測鍍層的佳設(shè)置。
CT-3型膜厚計(jì)的測量范圍為0.006~300μm,最小分解能可達(dá)0.001μm,能夠測量極薄的鍍層。這款設(shè)備特別擅長超薄層(<1μm)與厚鍍層(≤300μm)的檢測,尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求,適合電子元器件行業(yè)、精密零部件行業(yè)以及通用制造業(yè)的常規(guī)鍍層檢測。
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度,主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn):
  1. 輕巧緊湊的機(jī)身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
  2. 增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩(wěn)定性。
  3. 廣泛的校準(zhǔn)范圍:標(biāo)準(zhǔn)板的校準(zhǔn)范圍為±15%,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
  4. 1/100范圍:也可以用于Au,Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍(以0.001μm為單位進(jìn)行測量)。
  5. 墊片范圍的3種類型是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備:可以使用三種類型的墊片,分別為3.4φ,2.4φ和1.7φ,以適配不同尺寸工件,可檢測非導(dǎo)電性基材上的鍍層。
  6. 配備主動(dòng)功能:主動(dòng)功能可去除一些氧化物,從而減少氧化物測量失敗。
  7. 簡易范圍設(shè)定:由于所有設(shè)置都是通過撥盤進(jìn)行的,因此可以輕松進(jìn)行待測鍍層的佳設(shè)置。
CT-3型膜厚計(jì)的測量范圍為0.006~300μm,最小分解能可達(dá)0.001μm,能夠測量極薄的鍍層。這款設(shè)備特別擅長超薄層(<1μm)與厚鍍層(≤300μm)的檢測,尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求,適合電子元器件行業(yè)、精密零部件行業(yè)以及通用制造業(yè)的常規(guī)鍍層檢測。





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