SALD-7101粒度分析儀 返回列表頁

用375納米紫外激光打開納米技術之門

在世界采用37５納米紫外半導體激光
納米和生命科學研究發(fā)展的一項重要的分析儀器。

10納米檢測下限

基于相同測量原理，對范圍從10 nm 到 300 µm的粒子的持續(xù)變化的測量是可能的。確保全部測量范圍的粒度分布測量精確，因為采用了無需切換的無斷點光學系統(tǒng)。

測定時間最短１秒

由于極快的測定速度，所以以1秒為間隔連續(xù)觀測粒子的分散或溶解反應過程是可能的，這些結果將被連續(xù)自動保存。粒子反應過程的統(tǒng)計處理和3D顯示功能提供了便利的多層面分析和評估工具。（WingSALD-7101CM連續(xù)測量軟件）

測量濃度從數(shù)ppm到20%

某些樣品可能隨著稀釋粒度發(fā)生變化，對這樣的樣品不經(jīng)稀釋直接進行進行精確的分析可行的，通過搭配設計的高濃度樣品測定系統(tǒng)，SALD可在未稀釋溶液里或最小稀釋之后進行測量。例如，可在幾乎沒有任何預先處理的情況下，直接測量手乳霜、面霜和沖洗液。

結合大量數(shù)據(jù)處理功能，操作性簡便快速

為實現(xiàn)不同目的和處理需求，在軟件上包含三種“wings"(子程序)，操作簡便快速，功能強大。

激光衍射原理

SALD-7101光學系統(tǒng)

從光源（半導體激光）發(fā)出的激光束通過準直鏡轉化為平行光束，照射在粒子樣品上。樣品產(chǎn)生的的前向的散射光寬度達到60∞度，通過鏡頭進行匯聚，將散射光投射在檢測器平面上。呈同心圓形排列的翼裝檢測器最終檢測衍射光的強度產(chǎn)生分析數(shù)據(jù)。散射光向側面和向發(fā)散的部分，被側面和后向的檢測器檢測。全向的檢測器分布可以保證獲得所有方向的檢測散射光數(shù)據(jù)，保證不同粒徑粒子的檢測準確度。

1.濕法測定

采用SALD-MS71進樣器多功能循環(huán)式進樣器測定不同粒徑粒子獲得的結果。



采用SALD-MS71批式池測量二氧化硅粒子的結果。

2.高濃度樣品測定

許多樣品的粒度分布可能因為稀釋而改變。在此例中，使用SALD-HC71無需稀釋樣品可直接測定聚苯乙烯的粒度分布。。