對(duì)于半導(dǎo)體QC來(lái)說(shuō)，F(xiàn)T-IR光譜作為一種簡(jiǎn)單而有效的工具從眾多手段中脫穎而出。布魯克生產(chǎn)的FT-IR譜儀可提供各種產(chǎn)品組合，用以幫助在開(kāi)發(fā)和過(guò)程控制方面進(jìn)行創(chuàng)新。

講堂主題：布魯克FTIR在硅產(chǎn)品質(zhì)控領(lǐng)域的系列方案

開(kāi)播時(shí)間：7月28日（周三）15:30準(zhǔn)時(shí)開(kāi)播

演講人：布魯克光譜德國(guó)應(yīng)用專家 吳丹博士

在此次舉行的免費(fèi)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)中，我們將向您介紹布魯克使用FT-IR光譜進(jìn)行半導(dǎo)體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，敬請(qǐng)關(guān)注！

長(zhǎng)按下方二維碼，或點(diǎn)擊左下方“閱讀原文”。

進(jìn)入鏈接后，點(diǎn)擊“預(yù)約報(bào)名”并填寫報(bào)名表，提交后即報(bào)名成功。