通過采用振鏡掃描技術，我們提供了更快的測量速度、更高的光譜質量和優(yōu)異的性能，重新定義了拉曼成像。

振鏡掃描技術能夠實現快速、精準的激光線掃描與控制。

這意味著您可以在不移動顯微鏡樣品臺的情況下，通過激光點在樣品上快速移動來

提高成像速度，還可以減少由于樣品臺移動引起的微振動問題。該系列顯微鏡結合

Nanophoton線掃技術，為各種樣品的高性能成像奠定了基礎。

面向半導體應用，為晶圓分析提供了超快的成像速度，優(yōu)異的的穩(wěn)定性、可重復性和準確性。

  · 在線光斑模式下，能同時獲得400張光譜

  · 配備專用的300毫米平臺，支持完整的12英寸晶圓的拉曼成像

  · 使用AreaFlash技術，進行快速平均成像

  · 可連接至缺陷檢測系統(tǒng)

  · 適用于潔凈室