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  • 2025 03-12
    遼寧省政協(xié)主席周波走進(jìn)歐波同考察調(diào)研

    2月25日,遼寧省政協(xié)主席周波率隊(duì)赴鞍山市開(kāi)展調(diào)研工作,重點(diǎn)考察高新技術(shù)企業(yè)創(chuàng)新發(fā)展情況。鞍山市委書(shū)記王忠昆,市委常委、秘書(shū)長(zhǎng)武佩瑩,高新區(qū)黨工委書(shū)記、管委會(huì)主任鄭思南等領(lǐng)導(dǎo)陪同調(diào)研。周波主席一行深入

  • 2025 01-06
    哪個(gè)時(shí)刻,硬控你的2024?

  • 2024 10-12
    學(xué)員招募| 賽默飛掃描電鏡培訓(xùn)班

    開(kāi)課時(shí)間:2024年10月21日至2024年10月25日,歐波同電鏡體驗(yàn)中心設(shè)備配置先進(jìn)、技術(shù)實(shí)力雄厚,是國(guó)內(nèi)頗具規(guī)模的賽默飛掃描電鏡應(yīng)用中心。自2011年成立以來(lái),一直致力于為中國(guó)各領(lǐng)域客戶提供專業(yè)

  • 2024 09-14
    直播預(yù)告

    您是否在現(xiàn)代化的電池生產(chǎn)過(guò)程中面臨著各種挑戰(zhàn)?有限的資源、不斷增加的各種測(cè)試和人員的變動(dòng)都在影響成品的報(bào)廢率和綜合效益?賽默飛世爾科技為您提供了一個(gè)全新高效的解決方案!我們誠(chéng)摯的邀請(qǐng)您參加即將舉行的T

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技術(shù)中心
  • 06-252025
    手持式合金分析儀在金屬制造業(yè)的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)

    在金屬制造業(yè)中,手持式合金分析儀憑借其快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的特點(diǎn),成為的檢測(cè)工具。應(yīng)用方面:原材料檢驗(yàn):在原材料采購(gòu)和入庫(kù)環(huán)節(jié),手持式合金分析儀能夠快速檢測(cè)金屬材料的化學(xué)成分,確保原材料符合生產(chǎn)要求,避免

  • 06-192025
    便攜式合金分析儀的維護(hù)與保養(yǎng)

    便攜式合金分析儀是工業(yè)檢測(cè)中常用的設(shè)備,可快速、準(zhǔn)確地分析金屬材料的成分。為確保其性能穩(wěn)定、延長(zhǎng)使用壽命,需采取以下維護(hù)與保養(yǎng)措施:1.日常清潔檢測(cè)窗口清潔:檢測(cè)窗口是分析儀的核心部件,需保持清潔。每

  • 06-142025
    鎢燈絲掃描電鏡的維護(hù)與保養(yǎng)技巧

    鎢燈絲掃描電鏡是用于觀察微觀物體表面及其結(jié)構(gòu)的高精度設(shè)備,其性能與穩(wěn)定性在許多研究領(lǐng)域中至關(guān)重要。鎢燈絲作為電子槍的核心組件,其質(zhì)量和使用狀態(tài)直接影響其工作效率和圖像質(zhì)量。因此,正確的維護(hù)與保養(yǎng)尤為重

  • 06-112025
    賽默飛掃描電鏡的技術(shù)原理與應(yīng)用解析

    賽默飛掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并通過(guò)分析反射電子來(lái)獲取表面形貌、成分以及微觀結(jié)構(gòu)信息的顯微鏡技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。一、技術(shù)原理賽默飛掃描電鏡的工作原理基于電子

  • 06-082025
    賽默飛電子顯微鏡的工作原理與技術(shù)優(yōu)勢(shì)

    賽默飛電子顯微鏡是一種利用電子束代替光束進(jìn)行成像的顯微儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。它采用電子束通過(guò)物質(zhì)樣品來(lái)觀察和分析樣品的微觀結(jié)構(gòu)、組成及其性能。一、工作原理賽默飛電子

  • 06-052025
    掃描電鏡顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

    掃描電鏡顯微鏡是一種能夠利用電子束掃描樣品表面并獲取其形貌、成分、結(jié)構(gòu)等信息的高分辨率顯微鏡。廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域,尤其在研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、表面特性、成分分布等方面,具有不可替代的優(yōu)勢(shì)。掃描電鏡顯

  • 04-092025
    SEM掃描電鏡有什么應(yīng)用?

    SEM掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。該設(shè)備是利用電子束掃描樣品表面,產(chǎn)生二次電子等信號(hào),通過(guò)檢測(cè)這些信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌

  • 03-122025
    FIB雙束掃描電鏡的工作原理來(lái)了解下!

    FIB雙束掃描電鏡通過(guò)結(jié)合氣體沉積裝置、納米操縱儀、多種探測(cè)器和可控樣品臺(tái)等附件,實(shí)現(xiàn)了微區(qū)成像、加工、分析和操縱的一體化,在物理、化學(xué)、生物、新材料、農(nóng)業(yè)、環(huán)境和能源等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。工作原


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