目錄:北京儀光科技有限公司>>三維光學(xué)輪廓儀>>BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀>> ContourX-500BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 | 
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BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具
| 參數(shù)項(xiàng) | 具體數(shù)值 | 
| 橫向分辨率 | 最高可達(dá) 0.14μm | 
| 縱向分辨率 | 低至 0.1nm | 
| 縱向測量范圍 | 0.1nm-10mm | 
| 樣品臺(tái)尺寸 | 150mm×150mm | 
| 樣品臺(tái)承重 | 5kg | 
| 連續(xù)測量效率 | 單樣品平均檢測時(shí)間<2 分鐘 | 
| 工業(yè)對接協(xié)議 | 支持 Modbus、Profinet | 
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量 | 本地可存 1000 組數(shù)據(jù) | 
| 工作溫度 | 15-30℃ | 
| 相對濕度 | 20%-70%(無冷凝) | 
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