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目錄:北京儀光科技有限公司>>三維光學(xué)輪廓儀>>BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀>> ContourX-100BEUKER三維光學(xué)輪廓儀教學(xué)科研入門(mén)級(jí)工具

BEUKER三維光學(xué)輪廓儀教學(xué)科研入門(mén)級(jí)工具

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參考價(jià) ￥ 900000
訂貨量 ≥1件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
￥900000
≥1件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào) ContourX-100
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間：2025-10-21 20:05:01瀏覽次數(shù)：140評(píng)價(jià)

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BEUKER三維光學(xué)輪廓儀教學(xué)科研入門(mén)級(jí)工具
在高?；A(chǔ)科研實(shí)驗(yàn)室與職業(yè)教育機(jī)構(gòu)，布魯克 ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀以高性?xún)r(jià)比與易操作性，成為微觀測(cè)量教學(xué)與入門(mén)級(jí)科研的理想選擇。

BEUKER三維光學(xué)輪廓儀教學(xué)科研入門(mén)級(jí)工具

在高校基礎(chǔ)科研實(shí)驗(yàn)室與職業(yè)教育機(jī)構(gòu)，布魯克 ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀以高性?xún)r(jià)比與易操作性，成為微觀測(cè)量教學(xué)與入門(mén)級(jí)科研的理想選擇。
產(chǎn)品細(xì)節(jié)
ContourX-100 設(shè)計(jì)極簡(jiǎn)，機(jī)身尺寸 450mm×350mm×400mm，重量 8kg，可輕松搬運(yùn)至不同教室。操作界面為基礎(chǔ)按鍵式，無(wú)復(fù)雜菜單，搭配圖文操作手冊(cè)，學(xué)生能自主學(xué)習(xí)操作。樣品臺(tái)為開(kāi)放式設(shè)計(jì)，無(wú)遮擋結(jié)構(gòu)，便于觀察樣品與鏡頭的相對(duì)位置，理解測(cè)量原理；臺(tái)面帶坐標(biāo)刻度，幫助掌握樣品定位方法。設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)為固定焦距設(shè)計(jì)，無(wú)需頻繁對(duì)焦調(diào)試；光源為 LED 冷光源，壽命長(zhǎng)且不發(fā)熱，不會(huì)影響樣品溫度。機(jī)身側(cè)面有透明觀察窗，可直觀看到內(nèi)部光學(xué)部件工作狀態(tài)，便于講解設(shè)備結(jié)構(gòu)。
產(chǎn)品性能
ContourX-100 采用白光干涉技術(shù)，可測(cè)量表面粗糙度 Ra 值 0.05-20μm 的樣品，如金屬薄片、玻璃載玻片。測(cè)量數(shù)據(jù)重復(fù)性較好，不同學(xué)生測(cè)量同一樣品的結(jié)果差異小，適合對(duì)比實(shí)驗(yàn)。測(cè)量速度適中，單次小區(qū)域（300μm×300μm）掃描約 3-5 分鐘，能讓學(xué)生充分觀察測(cè)量過(guò)程。配套教學(xué)版軟件，包含數(shù)據(jù)采集、基礎(chǔ)分析功能，可導(dǎo)出數(shù)據(jù)至 Excel，滿足教學(xué)報(bào)告撰寫(xiě)需求。
用材講究
外殼采用高強(qiáng)度 ABS 塑料，能承受學(xué)生操作中的輕微碰撞。光學(xué)鏡頭選用普通光學(xué)玻璃，滿足基礎(chǔ)測(cè)量需求，損壞后更換方便。樣品臺(tái)臺(tái)面為耐磨酚醛樹(shù)脂板，長(zhǎng)期使用不易刮花。內(nèi)部電路模塊化設(shè)計(jì)，某一部件故障可單獨(dú)更換，降低維修成本。
參數(shù)詳情
參數(shù)項(xiàng)
具體數(shù)值
橫向分辨率
最高可達(dá) 1μm
縱向分辨率
低至 5nm
縱向測(cè)量范圍
5nm-3mm
樣品臺(tái)尺寸
80mm×80mm
樣品臺(tái)調(diào)節(jié)方式
手動(dòng)旋鈕（X/Y 軸）
光源類(lèi)型
LED 冷光源（壽命＞10000 小時(shí)）
數(shù)據(jù)接口
USB 2.0
設(shè)備重量
8kg
工作溫度
18-30℃
相對(duì)濕度
25%-65%（無(wú)冷凝）
廣泛用途
在高校材料科學(xué)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中，用于 “材料表面粗糙度測(cè)量" 實(shí)驗(yàn)，理解加工工藝對(duì)表面的影響；在職業(yè)教育機(jī)電實(shí)訓(xùn)中，檢測(cè)機(jī)械零件的表面質(zhì)量，理解公差概念；在中學(xué)科技社團(tuán)，觀察樹(shù)葉、昆蟲(chóng)翅膀的微觀形貌，激發(fā)興趣；在入門(mén)級(jí)科研中，用于新材料初步測(cè)試，如檢測(cè)新型涂層的厚度均勻性。
使用說(shuō)明
放置在水平無(wú)振動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái)，避免強(qiáng)光照射。連接電源與電腦，安裝教學(xué)版軟件并完成連接。學(xué)生清潔樣品后放在樣品臺(tái)，通過(guò)旋鈕移動(dòng)樣品臺(tái)，參考刻度對(duì)準(zhǔn)測(cè)量區(qū)域。選擇 “快速測(cè)量" 模式，設(shè)置掃描范圍，點(diǎn)擊 “開(kāi)始"。教師可結(jié)合實(shí)時(shí)成像講解白光干涉原理，測(cè)量后學(xué)生導(dǎo)出數(shù)據(jù)撰寫(xiě)報(bào)告。實(shí)驗(yàn)后學(xué)生關(guān)閉電源，用干布擦拭樣品臺(tái)，鏡頭有灰塵用專(zhuān)用紙輕擦。教師每學(xué)期檢查設(shè)備光學(xué)部件，每學(xué)年更換老化光源。

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