X-4CII顯微熔點(diǎn)儀 參考價(jià):面議
X-4CII顯微熔點(diǎn)儀測(cè)量方法一般有光電自動(dòng)檢測(cè)和目視觀察二種。在速率升溫的條件下測(cè)量或觀察它們的熔解過程,以確定它們的熔點(diǎn)。X-4BII顯微熔點(diǎn)儀 參考價(jià):面議
X-4BII顯微熔點(diǎn)儀采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。X-4AII顯微熔點(diǎn)儀 參考價(jià):面議
X-4AII顯微熔點(diǎn)儀采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)