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X-4AII顯微熔點(diǎn)儀
  • X-4AII顯微熔點(diǎn)儀
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貨物所在地:上海上海市

更新時(shí)間:2025-09-12 14:41:26

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X-4AII顯微熔點(diǎn)儀采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

X-4AII顯微熔點(diǎn)儀系列主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測(cè)定,以便確定其純度。測(cè)量方法一般有光電自動(dòng)檢測(cè)和目視觀察二種。在速率升溫的條件下測(cè)量或觀察它們的熔解過(guò)程,以確定它們的熔點(diǎn)。

X-4AII顯微熔點(diǎn)儀測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn);

1、主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。儀器采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

2、熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃;

3、溫度數(shù)顯最小示值:0.1℃;

4、熔點(diǎn)的觀察方式:?jiǎn)文跨R

5、放大倍數(shù):40X(選配達(dá)100X)、(4 X物鏡標(biāo)配,10 X物鏡選配)

6、線性升溫速率:1℃/min,3℃/min,5℃/min,1

0℃/min和全速升溫檔5檔;

7、線性升溫速率誤差:不大于設(shè)定值的10%;

8、測(cè)量示值誤差:±0.8℃(≤200℃),±1.0℃(>200℃);

9、重復(fù)性:升溫速錄為1.0℃/min時(shí),0.5℃;

10、蓋玻片尺寸(長(zhǎng)×寬×高):18×18×0.17mm;

11、毛細(xì)管尺寸:內(nèi)徑1.0mm,外徑1.4mm,長(zhǎng)度80mm;

12、電源:220±10%V,100W,50/60Hz;

13、尺寸(長(zhǎng)、寬、高):278mm×286mm×210mm;

14、儀器凈重:8kg。

 

 
 

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