日本標準試塊超聲波探傷試塊 返回列表頁

日本標準試塊超聲波探傷試塊

1. 標準試塊

標準試塊簡稱STB試塊，通常由國際有關組織，國家和工業(yè)部的技術部門、標準化組織推薦、確定和通過使用的。它們可作為探傷儀、探頭性能的測定；探傷靈敏度和時間軸比例等的調(diào)整，以及缺陷尺寸的評價。但某一種試塊不一定都具備這些功能，而是隨應用對象不同而有所側重，它們常常在使用目的相同的檢查之間通用，其材質、形狀、尺寸及使用性能也均已達到了標準化程度。例如，國際上通用的標準試塊有IIW試塊、IIW2試塊等，我國的CS–1，CS–2，CSK–IA，CSK–IB，CSK–IC（如圖2–34），日本的STB–G系列試塊，美國的ASTM和ASME的標準試塊，英國的BS–A2，BS–A4試塊，西德DIN54120中的1#試塊等等均屬此列，其中有些試塊可用于制作距離–波幅曲線或面積–波幅曲線。

標準試塊標準試塊通常是由機構制定的試塊，其特性與制作要求有專門的標準規(guī)定。 標準試塊通常具有規(guī)定的材質、形狀、尺寸及表面狀態(tài)。 標準試塊用于儀器探頭系統(tǒng)性能測試校準和檢測校準，

型號：JIS-STB-A1、JIS-STB-A2、JIS-STB-A3、JIS-STB-G、STB-A21、STB-A22、JIS-STB-A1(與IW試塊相同)

JIS-STB-A2(用單探頭或雙探頭法進行斜角探傷時，用于探傷靈敏度的調(diào)整或表示。也可用于探傷儀的綜合分辨力的測定和表示)。

JIS-STB-A3(作為A1和A2試塊現(xiàn)場用的輔助標準試塊，可用于入射點的確定、時間軸的調(diào)整、時間軸原點的修正、折射角和探傷靈敏度的確定）

JIS-STB-G(用于各種調(diào)整, min探傷距離的檢定等)。

V2~V8都加工有∮2平底孔，和V15-2-樣用于2~15mm探傷距離下的靈敏度特性試驗，反射脈沖高度在規(guī)定值t1db以內(nèi)。V15-1～V15-5.6鉆有p1.0~∮5.6mm平底孔，相鄰孔底的西積比依次為2倍。即用于探傷靈敏度的調(diào)整。

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