高低溫試驗(yàn)箱在元器件中的應(yīng)用

電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起，它們與溫度有密切的關(guān)系。

在高溫貯存操作溫度升高以后，電子元件的化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，失效過(guò)程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露，予以剔除。

高溫篩選在半導(dǎo)體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機(jī)理的器件。

通過(guò)高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來(lái)，減少使用中的參數(shù)漂移。

作用二：功率電老煉

熱電應(yīng)力的共同作用能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的重要項(xiàng)目。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉，有些產(chǎn)品不能隨便改變條件但可以采用高溫工作方式來(lái)提高工作結(jié)溫，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。

作用三：溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效。

高低溫試驗(yàn)箱所執(zhí)行的溫度循環(huán)篩選利用了ji端高溫和ji端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。