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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,地礦,電子/電池,航空航天,電氣 | 溫度范圍 | -196~600℃（RT~1000℃可選） |
|---|---|---|---|
| 溫度精度與穩(wěn)定性 | ±0.05℃ | 最大加熱速率 | ≥80℃/min |
| 最大冷卻速率 | -50℃/min |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
TS-PM-Y溫控探針冷熱臺(tái)系列能提供-196~600℃（可拓展RT~1000℃）范圍內(nèi)樣品控溫環(huán)境，允許用戶(hù)在樣品溫控的同時(shí)進(jìn)行探針測(cè)試，并同時(shí)進(jìn)行氣氛控制和光學(xué)觀察。探針與內(nèi)部電級(jí)相連，針座可移動(dòng)，保證了測(cè)量區(qū)域，也可以對(duì)樣品進(jìn)行封裝保證測(cè)試精度。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、TS-PM-Y溫控探針冷熱臺(tái)系列可獨(dú)立控溫，也可通過(guò)上位機(jī)軟件控制。
2、溫度范圍廣，120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可選。
3、可選擇透射光或反射光觀察 探針?lè)N類(lèi)豐富，可根據(jù)用戶(hù)需求進(jìn)行定制 軟件拓展性強(qiáng)，可提供LABVIEW等語(yǔ)言的SDK。
溫控探針冷熱臺(tái)系列系統(tǒng)配置：
應(yīng)用場(chǎng)景：
電學(xué)測(cè)試
光學(xué)測(cè)試
材料冶金
霍爾效應(yīng)測(cè)試
參數(shù)規(guī)格
TS600-M可選項(xiàng)目：
此設(shè)備溫區(qū)120~400℃ 提供預(yù)制帶電極的陶瓷基板，適用于有機(jī)材料或者較厚的樣品測(cè)試
外形尺寸
主要產(chǎn)品及服務(wù)：
1、TS系列冷熱臺(tái)（-196~1500℃）：包括各種型號(hào)的冷臺(tái)、中溫?zé)崤_(tái)、高溫?zé)崤_(tái)、溫控探針臺(tái)及定制方案；
2、TC系列烤膠機(jī)（RT~800℃）：包括不同溫度區(qū)間、不同加熱尺寸、不同氣氛的烤膠機(jī)，契合各種應(yīng)用場(chǎng)景；
3、TE系列熱電器件分析儀：包括多通道/單通道熱電器件評(píng)價(jià)系統(tǒng)、熱電性能測(cè)試裝置；
4、分析測(cè)量服務(wù)：光學(xué)器件、熱電器件的分析檢測(cè)及報(bào)告輸出。