無(wú)錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第21年

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制冷加熱控溫系統(tǒng)
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元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)適用哪些地方？2019/4/3
元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)是無(wú)錫冠亞集自身制冷加熱控溫領(lǐng)域的相關(guān)優(yōu)勢(shì)，針對(duì)元器件行業(yè)推出的制冷加熱控溫系統(tǒng)，那么，元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)適用于哪些元器件中呢？元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)可用于集成電路類，可測(cè)試篩選各...
ic測(cè)試設(shè)備廠家測(cè)試項(xiàng)目說(shuō)明2019/3/29
ic測(cè)試設(shè)備廠家在進(jìn)行項(xiàng)目測(cè)試的時(shí)候需要注意其測(cè)試流程，用戶通過(guò)詳細(xì)的了解才能使得ic測(cè)試設(shè)備更加的運(yùn)行。ic測(cè)試設(shè)備在芯片內(nèi)是由專屬電路負(fù)責(zé)的，這部分電路的搭建由DFT工程師來(lái)做，在流片后，DFT工...
集成芯片測(cè)試儀器測(cè)試方法2019/3/29
集成芯片測(cè)試儀器是在元器件中芯片、半導(dǎo)體、集成電路測(cè)試中使用的，無(wú)錫冠亞的集成芯片測(cè)試儀器在使用的時(shí)候需要注意其測(cè)試方法，爭(zhēng)取更有效的運(yùn)行集成芯片測(cè)試儀器。集成芯片測(cè)試儀器運(yùn)行的時(shí)候按管腳功能圖連接好...
元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)運(yùn)行說(shuō)明2019/3/29
元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)是用在元器件測(cè)試中的，一般用戶對(duì)于其簡(jiǎn)單的運(yùn)行不是很了解的話，需要對(duì)其的運(yùn)行流程了解清楚。一般說(shuō)來(lái)，元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)是根據(jù)設(shè)計(jì)要求進(jìn)行測(cè)試，不符合設(shè)計(jì)要求的就是不合格。而設(shè)計(jì)要...
晶振溫度測(cè)試系統(tǒng)如何進(jìn)行測(cè)試2019/3/29
用戶在購(gòu)買晶振溫度測(cè)試系統(tǒng)之后，需要提前查看其如何測(cè)試，購(gòu)買者了解晶振溫度測(cè)試系統(tǒng)之后，如果不了解的話，建議先了解了之后在進(jìn)行運(yùn)行。晶振溫度測(cè)試系統(tǒng)分類包括晶圓測(cè)試、芯片測(cè)試、封裝測(cè)試，晶振溫度測(cè)試系...
芯片零件測(cè)試詳解2019/3/29
用戶在使用芯片零件測(cè)試之前，需要充分了解芯片零件測(cè)試的工作原理以及使用流程，準(zhǔn)備工作做好，芯片零件測(cè)試才能更有效的進(jìn)行運(yùn)行。芯片很敏感，所以測(cè)試的時(shí)候要注意不要引起引腳之間的短路，任何一瞬間的短路都能...
熱循環(huán)測(cè)試儀性能說(shuō)明2019/3/28
隨著元器件測(cè)試市場(chǎng)的需求，熱循環(huán)測(cè)試儀的推動(dòng)也在不斷進(jìn)步，無(wú)錫冠亞熱循環(huán)測(cè)試儀的性能也在不斷的進(jìn)步，那么，對(duì)于熱循環(huán)測(cè)試儀，以前不太關(guān)注的話，現(xiàn)在也必須考慮好。熱循環(huán)測(cè)試儀電性優(yōu)化的目的，本質(zhì)上來(lái)說(shuō)就...
智能溫度測(cè)試系統(tǒng)2019/3/28
智能溫度測(cè)試系統(tǒng)主要是無(wú)錫冠亞針對(duì)各種元器件測(cè)試使用的，對(duì)于元器件來(lái)說(shuō)，智能溫度測(cè)試系統(tǒng)在使用之前還需要對(duì)其相關(guān)的元器件性能了解清楚，才能更加有利于其運(yùn)行。除了晶體管、導(dǎo)線之外，其他基本元件還有二管與...
芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)知識(shí)科普2019/3/28
隨著電子集成電路行業(yè)的不斷發(fā)展，芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也在芯片行業(yè)不斷取得了進(jìn)步，那么用戶對(duì)于芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中芯片了解多少呢？芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要是芯片以及半導(dǎo)體行業(yè)測(cè)試，硅具有良好的半導(dǎo)體特性，而且高溫...
芯片測(cè)試系統(tǒng)說(shuō)明2019/3/28
隨著半導(dǎo)體行業(yè)的不斷發(fā)展，芯片測(cè)試系統(tǒng)得到不斷的應(yīng)用以及推廣，芯片測(cè)試系統(tǒng)中晶圓測(cè)試是討論比較多的，那么對(duì)于芯片測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)行大家都了解多少呢？芯片測(cè)試系統(tǒng)是對(duì)劃片槽測(cè)試鍵的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各...
無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)解析晶圓測(cè)試2019/3/28
無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)是專業(yè)測(cè)試各種元器件、半導(dǎo)體、芯片的，那么，其中的晶圓測(cè)試是怎么進(jìn)行的呢？無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)的晶圓測(cè)試和老化指對(duì)半導(dǎo)體器件在未包裝之前進(jìn)行電氣測(cè)試和老化。老化是指通過(guò)加壓加熱對(duì)半導(dǎo)體器件...
ic測(cè)試設(shè)備廠家關(guān)于芯片測(cè)試裝置說(shuō)明2019/3/27
在涉及到芯片測(cè)試裝置領(lǐng)域，各個(gè)ic測(cè)試設(shè)備廠家都是有著自己優(yōu)勢(shì)，無(wú)錫冠亞ic測(cè)試設(shè)備廠家是可以針對(duì)元器件行業(yè)測(cè)試使用的，提高測(cè)試驗(yàn)證的效率和結(jié)果穩(wěn)定性。隨著物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的推進(jìn)，非接觸通信設(shè)備，智能卡的需...
熱循環(huán)檢測(cè)說(shuō)明2019/3/27
熱循環(huán)檢測(cè)是針對(duì)元器件高低溫環(huán)境下的檢測(cè)工作，那么，關(guān)于無(wú)錫冠亞熱循環(huán)檢測(cè)的相關(guān)知識(shí)，大家都了解多少呢？熱循環(huán)檢測(cè)使用單電源值和封裝的單QJA值計(jì)算芯片的高溫度，該溫度值通常過(guò)于樂(lè)觀，無(wú)法獲知芯片上的...
集成芯片測(cè)試儀器使用建議2019/3/27
集成芯片測(cè)試儀器是使用在不同的工藝中，在不同的工況要求下，集成芯片測(cè)試儀器在使用的時(shí)候需要注意一些使用知識(shí)，那么，集成芯片測(cè)試儀器在使用需要注意哪些呢？芯片上的溫度變化會(huì)顯著地影響芯片功耗、速度和可靠...
芯片低溫測(cè)試優(yōu)勢(shì)說(shuō)明2019/3/27
芯片低溫測(cè)試是于元器件測(cè)試中的設(shè)備，在測(cè)試行業(yè)中，芯片低溫測(cè)試用戶需要對(duì)其芯片低溫測(cè)試設(shè)備生物優(yōu)勢(shì)了解清楚才能更好的運(yùn)行芯片低溫測(cè)試。芯片低溫測(cè)試是按照工業(yè)控制要求所設(shè)計(jì)的，其抗工業(yè)噪聲優(yōu)于一般的CP...
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