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SE-VE光譜橢偏儀03090803

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更新時間：2024-03-07 21:07:54瀏覽次數(shù)：645

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產(chǎn)品簡介

SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：SE-VE是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息

詳細介紹


SE-VE 光譜橢偏儀


img1


產(chǎn)品簡介： SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量 表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案，緊湊集成化設計，用 戶操作體驗，一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷，豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大 數(shù)據(jù)分析能力，廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。


產(chǎn)品型號

SE-VE 光譜橢偏儀

主要特點

1、采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍img2(400-800nm)


2、高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制、 PCRSA 配置， 實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集


3、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料

技術(shù)參數(shù)

1、自動化程度：固定角


2、應用定位：經(jīng)濟型


3、基本功能： Psi/Delta、N/C/S、R 等光譜


4、分析光譜： 400-800nm


5、單次測量時間： 0.5-5s


6、重復性測量精度： 0.05nm


7、光斑大小： 大光斑 1-3mm


8、入射角調(diào)節(jié)方式：固定角





9、入射角范圍： 65°


10、找焦方式：手動找焦


11、Mapping 行程：不支持


12、支持樣件尺寸： 至 160mm

可選配件

1

溫控臺

2

真空泵

3

透射吸附組件


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