深圳山河精測(cè)科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第1年

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奧林巴斯工業(yè)顯微鏡
無損檢測(cè)設(shè)備
光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品
半導(dǎo)體產(chǎn)品
定制產(chǎn)品
工業(yè)鏡頭（大靶面線掃鏡頭系列（16k/5um））
Allied Vision工業(yè)相機(jī)
  • Dual vision -2.0x/-8.0x光學(xué)系統(tǒng)

    Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款雙光路、雙倍率光學(xué)系統(tǒng)，支持2/3英寸相機(jī)，鏡頭倍率-2.0x/-8.0x，物方分辨率1.15um，并且自...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/7/22 11:50:37 對(duì)比
    光學(xué)系統(tǒng)雙倍率光學(xué)系統(tǒng)對(duì)位系統(tǒng)
  • FC UD Optics -3.0x上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)

    FC UD Optics -3.0x 是一款上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)，支持1.1英寸相機(jī)，鏡頭倍率-3.0x，物方分辨率1.15um，并且自帶同軸點(diǎn)光源照明，也可以集成...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/7/22 11:42:40 對(duì)比
    上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)對(duì)位系統(tǒng)
  • Up Down Look-0.84x上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)

    Up Down Look-0.84x是一款上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)，支持1/2.5英寸相機(jī)，鏡頭倍率-0.84x，物方分辨率6um，并且自帶同軸點(diǎn)光源照明，也可以集成環(huán)...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/7/22 11:38:49 對(duì)比
    上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)對(duì)位光學(xué)系統(tǒng)對(duì)位系統(tǒng)
  • 多功能通用晶圓搬運(yùn)機(jī)系統(tǒng)

    多功能通用晶圓搬運(yùn)機(jī)系統(tǒng)YIT系列對(duì)應(yīng)各種檢查裝置，適用于晶圓、玻璃相關(guān)產(chǎn)品自動(dòng)搬運(yùn)系統(tǒng)

    型號(hào)： YIT系列 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/4/27 16:43:36 對(duì)比
    晶圓搬運(yùn)機(jī)系統(tǒng)晶圓搬運(yùn)機(jī)搬運(yùn)機(jī)
  • 顯微鏡隔振平臺(tái)

    顯微鏡隔振平臺(tái)VIP-320/3200系列減少對(duì)鏡頭、分析儀器等的振動(dòng)。非常適合高倍觀察和顯微鏡操作。

    型號(hào)： VIP-320/3... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/4/22 11:34:38 對(duì)比
    臺(tái)式隔振平臺(tái)隔振平臺(tái)
  • Photron在線雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)

    Photron在線雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測(cè)系統(tǒng)KAMAKIRI

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 16:00:57 對(duì)比
    雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)雙折射分布系統(tǒng)
  • Photron離線雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)

    Photron離線雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測(cè)系統(tǒng)KAMAKIRI

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 16:00:40 對(duì)比
    雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)雙折射分布系統(tǒng)
  • 奧林巴斯手持光譜儀

    奧林巴斯手持光譜儀可以在現(xiàn)場(chǎng)指明多種珠寶和貴金屬的特性，這些貴金屬包括金、銀、鉑、鈀等。分析儀可以根據(jù)含金純度為含金合金精確地進(jìn)行分類（0到24克拉），而且還可...

    型號(hào)： Vanta系列 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 16:00:22 對(duì)比
    便攜式XRF分析儀XRF分析儀奧林巴斯XRF分析儀Vanta
  • 奧林巴斯相控陣探傷儀OmniScan SX

    奧林巴斯相控陣探傷儀OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡(jiǎn)化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對(duì)檢測(cè)要求較低的應(yīng)用...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 16:00:05 對(duì)比
    超聲相控陣探傷儀超聲探傷儀奧林巴斯探傷儀
  • 工業(yè)定制鏡頭

    工業(yè)定制鏡頭是一款高分辨率遠(yuǎn)心鏡頭，并且該光學(xué)鏡頭 帶內(nèi)同軸照明接口 ，支持至大 17.6mm 靶面相機(jī) ，鏡頭倍率- 0.345x 。物方分辨率 2um 。鏡...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:59:48 對(duì)比
    遠(yuǎn)心鏡頭鏡頭工業(yè)鏡頭
  • AVS高速相機(jī)短波紅外相機(jī)

    AVS高速相機(jī)短波紅外相機(jī)特點(diǎn)：img1G-032 TEC1千兆網(wǎng)視覺InGaAs相機(jī)VGA分辨率以太網(wǎng)供電緊湊型工業(yè)級(jí)設(shè)計(jì)無風(fēng)扇設(shè)計(jì)高動(dòng)態(tài)范圍

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:59:25 對(duì)比
    短波紅外相機(jī)紅外相機(jī)短波相機(jī)相機(jī)
  • 半導(dǎo)體封裝與貼合精密對(duì)位與精密檢測(cè)

    up down vision光學(xué)系統(tǒng)，用于半導(dǎo)體封裝與貼合精密對(duì)位與精密檢測(cè)

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:59:11 對(duì)比
    半導(dǎo)體封裝貼合精密對(duì)位精密檢測(cè)
  • X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

    X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測(cè)厚儀可完成鍍層厚度測(cè)量、元素分析、電鍍液分析。最多同時(shí)測(cè)量5層（4層鍍層+底材），每層可同時(shí)分析10種元素。成分測(cè)量可同時(shí)分析25...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:58:52 對(duì)比
    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀熒光鍍層測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀X射線鍍層測(cè)厚儀博曼XRF鍍層測(cè)厚儀
  • 顯微鏡下微取樣系統(tǒng)

    顯微鏡下微取樣系統(tǒng)CollectionPro：微小礦物自動(dòng)挑選/采集/集聚系統(tǒng)將耗費(fèi)礦物學(xué)研究者時(shí)間和精力的挑選、采集、集聚作業(yè)變得省力。通過結(jié)合圖像處理系統(tǒng)和...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:58:37 對(duì)比
    顯微鏡下微取樣系統(tǒng)微取樣系統(tǒng)
  • 超微小納米壓痕儀

    超微小納米壓痕儀通過減少測(cè)量環(huán)境的干擾實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性，適用于0.5uN-2000mN的廣泛實(shí)驗(yàn)負(fù)載。

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:58:24 對(duì)比
    超微小納米壓痕儀納米壓痕儀壓痕儀
  • 顯微鏡LED無掩膜曝光系統(tǒng) UTA-IA系列

    顯微鏡LED無掩膜曝光系統(tǒng) UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光設(shè)備。

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:57:46 對(duì)比
    顯微鏡LED曝光系統(tǒng)LED曝光系統(tǒng)顯微鏡LED曝光
  • AR虛像成像測(cè)試-Conoscope系統(tǒng)

    R-Testing-72是一款高性能AR虛像成像測(cè)試-Conoscope系統(tǒng)，鏡頭設(shè)計(jì)靶面支持至大全畫幅43.2mm，支持相機(jī)分辨率61M（9568*6380）...

    型號(hào)： 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:57:32 對(duì)比
    AR虛像成像測(cè)試AR虛像成像Conoscope系統(tǒng)AR Conoscope系統(tǒng)
  • VR-Pancake 鏡片光軸相對(duì)角度測(cè)量?jī)x

    VR-Pancake 鏡片光軸相對(duì)角度測(cè)量?jī)x主要規(guī)格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測(cè)量波長(zhǎng)：466nm,543nm,...

    型號(hào)： Photonic ... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:57:16 對(duì)比
    光軸相對(duì)角度測(cè)量?jī)x鏡片內(nèi)應(yīng)力相位差測(cè)量?jī)xVR-Pancake
  • VR-Pancake 鏡片內(nèi)應(yīng)力相位差測(cè)量?jī)x

    VR-Pancake 鏡片內(nèi)應(yīng)力相位差測(cè)量?jī)x主要規(guī)格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測(cè)量波長(zhǎng)：466nm,543nm,...

    型號(hào)： Photonic ... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:57:01 對(duì)比
    光軸相對(duì)角度測(cè)量?jī)x鏡片內(nèi)應(yīng)力相位差測(cè)量?jī)xVR-Pancake
  • Photonic Lattice二維雙折射應(yīng)力儀系統(tǒng)

    目前與奧林巴斯、日本photo Lattice、日本Micro Support等企業(yè)達(dá)成長(zhǎng)期代理與合作；主要代理產(chǎn)品包括：奧林巴斯工業(yè)顯微鏡系列，奧林巴斯工業(yè)探...

    型號(hào)： WPA系列 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/3/10 15:56:44 對(duì)比
    二維雙折射評(píng)價(jià)系統(tǒng)雙折射評(píng)價(jià)系統(tǒng)
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