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SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架 光學(xué)物鏡薄型空心框架結(jié)構(gòu)，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學(xué)高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架MHX-25.4F薄型空心框架結(jié)構(gòu)，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學(xué)高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架MHX-25.4A薄型空心框架結(jié)構(gòu)，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學(xué)高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪 物鏡 高穩(wěn)定不銹鋼鏡架薄型空心框架結(jié)構(gòu)，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學(xué)高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪反射鏡鏡架 高穩(wěn)定不銹鋼薄型空心框架結(jié)構(gòu)，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學(xué)高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪反射鏡鏡架 高穩(wěn)定不銹鋼薄型空心框架結(jié)構(gòu)，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學(xué)高精密測量等用途。
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計 HS-1000可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀OPTM-H3可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H2可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H1可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀Smart 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
KANOMAX加野粒子計數(shù)器超小型3950-00技術(shù)革新，致輕、致小，實現(xiàn)了嵌入組裝在半導(dǎo)體制造等裝置中2.83L/min，同時測試0.1、0.3μm微小粒子4...
KKANOMAX加野遠程塵埃粒子計數(shù)器3720-06具有標(biāo)準(zhǔn)Modbus協(xié)議及4~20mA模擬輸出功能 兩種粒徑同時測試0.3、0.5μm或0.5、5.0μm
KKANOMAX加野遠程塵埃粒子計數(shù)器3719-A具有標(biāo)準(zhǔn)Modbus協(xié)議及4~20mA模擬輸出功能 兩種粒徑同時測試0.3、0.5μm或0.5、5.0μm
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